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基于显微测量的成像传感器像面平行度调试系统及方法 专利
专利类型: 发明专利, 专利号: CN202011643159.7, 申请日期: 2020-12-30, 公开日期: 2021-05-11
发明人:  贾乃勋;  吴璀罡;  解来运;  卢振华;  王清龙;  孙雪琪;  栾超;  王曦;  邵雷
Adobe PDF(510Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：124/1  |  提交时间：2021/11/29
一种高精度星间角距的天区恒星模拟器及其标定方法 专利
专利类型: 发明专利, 专利号: CN202011611489.8, 申请日期: 2020-12-30, 公开日期: 2021-05-25
发明人:  贾乃勋;  吴璀罡;  卢振华;  解来运;  王清龙;  孙雪琪;  栾超;  王曦;  邵雷
Adobe PDF(931Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：194/0  |  提交时间：2021/11/29
The analysis of electron scattering among multiplying layer in EBAPS using optimized Monte Carlo method 期刊论文
MODERN PHYSICS LETTERS B, 2020, 卷号: 34, 期号: 34
作者:  Bai, Jinzhou;  Bai, Yonglin;  Hou, Xun;  Cao, Weiwei;  Yang, Yang;  Wang, Bo;  Bai, Xiaohong;  Li, Siqi
Adobe PDF(3037Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：221/4  |  提交时间：2021/01/07
EBAPS  image sensor  low light level  single photon  
Lasercom optical-terminal performance testing platform 期刊论文
Optik, 2020, 卷号: 224
作者:  Li, Jing;  Xue, Xun;  Wang, Zhengfeng;  Liu, Kai;  Zhou, Yan;  Zhao, Jianke
Adobe PDF(10889Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：269/1  |  提交时间：2020/10/30
Lasercom terminal  Optical design  Wavefront error  
一种大口径光学系统MTF测量装置及方法 专利
专利类型: 发明专利, 专利号: CN202010712501.8, 申请日期: 2020-07-22, 公开日期: 2020-11-10
发明人:  鄂可伟;  赵建科;  周艳;  王涛;  王争锋;  刘锴;  李晶;  薛勋;  李坤
Adobe PDF(551Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：99/0  |  提交时间：2021/11/24
傅里叶变换高光谱Mueller矩阵成像理论与方法 期刊论文
光学学报, 2020, 卷号: 40, 期号: 7
作者:  刘杰;  李建欣;  柏财勋;  许逸轩;  钱佳敏;  王宇博
Adobe PDF(2756Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：215/0  |  提交时间：2020/06/19
成像系统  Mueller矩阵成像  傅里叶变换成像光谱仪  液晶  双折射  
相机探测器指向和焦面组件安装面夹角的检测装置 专利
专利类型: 实用新型, 专利号: CN201921140391.1, 申请日期: 2020-04-03, 公开日期: 2020-04-03
发明人:  王争锋;  薛勋;  赵建科;  周艳;  张洁;  刘锴;  胡丹丹;  刘尚阔;  鄂可伟;  陈孜妍
Adobe PDF(533Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：128/0  |  提交时间：2020/12/25
Development of an In-Situ Laser Machining System Using a Three-Dimensional Galvanometer Scanner 期刊论文
ENGINEERING, 2020, 卷号: 6, 期号: 1, 页码: 68-76
作者:  Li, Xiao;  Liu, Bin;  Mei, Xuesong;  Wang, Wenjun;  Wang, Xiaodong;  Li, Xun
Adobe PDF(3118Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：173/0  |  提交时间：2020/03/11
In-situ laser machining  Three-dimensional galvanometer scanner  Line structured light  Three-dimensional measurement