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大口径平面光学元件在位面形拼接测量装置及方法 专利
专利类型: 发明专利, 专利号: CN202011537846.0, 申请日期: 2021-11-16, 公开日期: 2021-03-30
发明人:  段亚轩;  达争尚;  陈晓义;  袁索超;  范尧;  李铭;  王璞
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高能激光测量中的光强探测器面响应校正方法 期刊论文
红外与激光工程, 2021, 卷号: 50
作者:  薛芳;  陈永权;  段亚轩;  蔺辉;  达争尚
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测量  面响应非均匀性  调制度  对比度