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Integrated semiconductor devices and method for manufacture thereof 专利
专利类型: 发明申请, 专利号: EP0631317A2, 申请日期: 1994-12-28, 公开日期: 1994-12-28
发明人:  GOOSSEN, KEITH WAYNE
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Reliability tester of semiconductor lasers 专利
专利类型: 发明申请, 专利号: EP0628830A2, 申请日期: 1994-12-14, 公开日期: 1994-12-14
发明人:  FUJIMARA, YASUSHI, C/O OSAKA WORKS OF SUMITOMO;  YOSHIMURA, MANABU, C/O OSAKA WORKS OF SUMITOMO;  TERAUCHI, HITOSHI, C/O OSAKA WORKS OF SUMITOMO
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Driver circuit 专利
专利类型: 发明申请, 专利号: EP0603899A2, 申请日期: 1994-06-29, 公开日期: 1994-06-29
发明人:  SATO, TOSHIAKI, C/O CANON KABUSHIKI KAISHA;  ICHISE, TOSHIHIKO, C/O CANON KABUSHIKI KAISHA;  ISHIZUKA, KEIJI, C/O CANON KABUSHIKI KAISHA;  MORITA, SHUNICHI, C/O CANON KABUSHIKI KAISHA;  KAIZU, SHUNICHI, C/O CANON KABUSHIKI KAISHA
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