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FPM-WSI: Fourier ptychographic whole slide imaging via feature-domain backdiffraction 预印本
2024
作者:  Zhang, Shuhe;  Wang, Aiye;  Xu, Jinghao;  Feng, Tianci;  Zhou, Jinhua;  Pan, An
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Layer by Layer Assembly Cs/Paa for High Sensitivity Detection of Heavy Metal Ions Using Mode Interference Sensor 预印本
2023
作者:  Yan, Minglu;  Wang, Ruiduo;  Liu, Beibei;  Li, Yangyang;  Li, Yarong;  Jiang, Man
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Super-resolution multicolor fluorescence microscopy enabled by an apochromatic super-oscillatory lens with extended depth-of-focus 预印本
2022
作者:  Li, Wenli;  He, Pei;  Fan, Yulong;  Du, Yangtao;  Gao, Bo;  Chu, Zhiqin;  An, Chengxu;  Lei, Dangyuan;  Yuan, Weizheng;  Yu, Yiting
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