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Thermally accelerated ageing test of 808nm high power diode laser arrays in CW mode 会议论文
2016 17th International Conference on Electronic Packaging Technology, ICEPT 2016, Wuhan, China, 2016-08-16
作者:  Nie, Zhiqiang;  Wu, Di;  Lu, Yao;  Wu, Dhai;  Wang, Shuna;  Zhang, Pu;  Xiong, Lingling;  Li, Xiaoning;  Shen, Zenan
Adobe PDF(1806Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：225/1  |  提交时间：2016/11/22
Chip Scale Packages  Defects  Degradation  Electronics Packaging  High Power Lasers  Laser Beam Welding  Power Semiconductor Diodes  Reliability  Reliability Analysis  Semiconductor Diodes  
Adaptive road detection towards multiscale-multilevel probabilistic analysis 会议论文
, Xi'an, China, 2014-07
作者:  Jiang, Zhiyu;  Wang, Qi;  Yuan, Yuan
Adobe PDF(2525Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：171/0  |  提交时间：2016/02/25
Video quality assessment via supervised topic model 会议论文
, Xi'an, China, 2014-07
作者:  Guo, Qun;  Lu, Xiaoqiang;  Yuan, Yuan
Adobe PDF(292Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：199/0  |  提交时间：2016/02/25