| 基于显微测量的成像传感器像面平行度调试系统及方法 |
| 贾乃勋; 吴璀罡; 解来运 ; 卢振华; 王清龙; 孙雪琪; 栾超; 王曦; 邵雷
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| 2020-12-30
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| 专利权人 | 中国科学院西安光学精密机械研究所
; 北京控制与电子技术研究所
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| 公开日期 | 2021-05-11
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| 授权国家 | 中国
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| 专利类型 | 发明专利
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| 产权排序 | 1
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| 摘要 | 本发明涉及成像传感器的装调方法，具体涉及基于显微测量的成像传感器像面平行度调试系统及方法，以解决现有成像传感器像面平行度调试时，存在直接测量法会划伤或损坏保护玻璃，且调试精度差，而成像测量法的离焦像质模糊不利于准确计算，且工作量大的技术问题。调试系统包括偏心仪气浮平台、四维调整台、辅助工装、偏心仪成像显微镜和千分表；待调试传感器组件安装在所述四维调整台上，偏心仪成像显微镜设置在待调试传感器组件的正上方。基于上述调试系统的调试方法包括：偏心仪气浮平台调平；将待调试传感器组件的安装法兰调平；用偏心仪成像显微镜测试成像传感器三点的数值，计算偏差值；根据偏差修正垫柱的厚度。 |
| 申请日期 | 2020-12-30
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| 专利号 | CN202011643159.7
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| 语种 | 中文
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| 专利状态 | 申请中
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| 公开（公告）号 | CN112781841A
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| IPC 分类号 | G01M11/04
; G01M11/02
; G01B11/26
; G01B5/24
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| 文献类型 | 专利
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| 条目标识符 | http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/95536
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| 专题 | 光学定向与测量技术研究室
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推荐引用方式
GB/T 7714 |
贾乃勋,吴璀罡,解来运,等. 基于显微测量的成像传感器像面平行度调试系统及方法. CN202011643159.7[P]. 2020-12-30.
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