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一种光学系统波前测量装置及方法
鄂可伟; 赵建科; 周艳; 李坤; 王涛; 李晶; 薛勋; 赵怀学; 刘尚阔
2021-10-12
专利权人中国科学院西安光学精密机械研究所
公开日期2020-11-10
授权国家中国
专利类型发明专利
产权排序1
摘要为了解决现有的光学系统波前测量方案易受环境扰动影响、探测精度较低的技术问题,本发明提供了一种光学系统波前测量装置及方法。本发明首先设计出一种拼接式分光棱镜实现对光学系统焦面附近的光束分光,在分光棱镜后安装探测器组成波前探测装置;该波前探测装置仅用一次拍摄便可获得光学系统的焦面像、焦前像和焦后像;在获取图像后,使用基于角谱传播的一种迭代方法便可获取系统的波前。本发明抗振能力强,受气流扰动等的影响小,且结构简单,成本低廉,有较高的动态范围和测量精度。
申请日期2020-07-28
专利号CN202010739537.5
语种中文
专利状态授权
公开(公告)号CN111912534B
IPC 分类号G01J9/00 ; G01M11/02
文献类型专利
条目标识符http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/95428
专题检测技术研究中心
推荐引用方式
GB/T 7714
鄂可伟,赵建科,周艳,等. 一种光学系统波前测量装置及方法. CN202010739537.5[P]. 2021-10-12.
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一种光学系统波前测量装置及方法.pdf(708KB)专利 限制开放CC BY-NC-SA请求全文
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