Xi'an Institute of Optics and Precision Mechanics,CAS
Ge/GeSn异质结激光器及其制备方法 | |
其他题名 | Ge/GeSn异质结激光器及其制备方法 |
舒斌; 张利锋; 高玉龙; 胡辉勇; 王斌; 王利明; 韩本光; 张鹤鸣 | |
2019-01-18 | |
专利权人 | 西安电子科技大学 |
公开日期 | 2019-01-18 |
授权国家 | 中国 |
专利类型 | 发明申请 |
摘要 | 本发明公开了一种Ge/GeSn异质结激光器及其制备方法。该方法包括:在衬底的表面生长第一布拉格反射镜层;在第一布拉格反射镜层的表面生长第一n型Ge层;在第一n型Ge层的表面生长第二n型Ge层;在第二n型Ge层的表面生长GeSn层;在GeSn层的表面生长第一p型Ge层;在第一p型Ge层的表面生长第二p型Ge层;在第二p型Ge层的表面生长第二布拉格反射镜层;在得到的结构上刻蚀出第一柱体和第二柱体;在第一台阶及所述第二台阶形成电极;最终形成Ge/GeSn异质结激光器。本发明通过采用GeSn材料代替传统的单一Ge材料,提高了发光效率;通过采用P‑I‑N结构降低了阈值电流密度;另外,本发明的制备方法工艺简单。 |
其他摘要 | 本发明公开了一种Ge/GeSn异质结激光器及其制备方法。该方法包括:在衬底的表面生长第一布拉格反射镜层;在第一布拉格反射镜层的表面生长第一n型Ge层;在第一n型Ge层的表面生长第二n型Ge层;在第二n型Ge层的表面生长GeSn层;在GeSn层的表面生长第一p型Ge层;在第一p型Ge层的表面生长第二p型Ge层;在第二p型Ge层的表面生长第二布拉格反射镜层;在得到的结构上刻蚀出第一柱体和第二柱体;在第一台阶及所述第二台阶形成电极;最终形成Ge/GeSn异质结激光器。本发明通过采用GeSn材料代替传统的单一Ge材料,提高了发光效率;通过采用P‑I‑N结构降低了阈值电流密度;另外,本发明的制备方法工艺简单。 |
申请日期 | 2018-09-17 |
专利号 | CN109244829A |
专利状态 | 申请中 |
申请号 | CN201811082940.4 |
公开(公告)号 | CN109244829A |
IPC 分类号 | H01S5/32 | H01S5/30 | H01S5/125 |
专利代理人 | 张捷 |
代理机构 | 西安嘉思特知识产权代理事务所(普通合伙) |
文献类型 | 专利 |
条目标识符 | http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/92322 |
专题 | 半导体激光器专利数据库 |
作者单位 | 西安电子科技大学 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 舒斌,张利锋,高玉龙,等. Ge/GeSn异质结激光器及其制备方法. CN109244829A[P]. 2019-01-18. |
条目包含的文件 | ||||||
文件名称/大小 | 文献类型 | 版本类型 | 开放类型 | 使用许可 | ||
CN109244829A.PDF(969KB) | 专利 | 开放获取 | CC BY-NC-SA | 请求全文 |
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