一种提高腔体谐振衰荡测量精度的方法

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	一种提高腔体谐振衰荡测量精度的方法
其他题名	一种提高腔体谐振衰荡测量精度的方法
	朱小明; 王晓东; 颜昌翔; 李丙玉
	2015-04-15
专利权人	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
公开日期	2015-04-15
授权国家	中国
专利类型	发明申请
摘要	本发明公开了一种提高腔体谐振衰荡测量精度的方法，包括以下步骤：步骤一、开启连续波长激光器，通过调整驱动电流和温度使其工作在目标波长，并使用波长监测器锁定；步骤二、激光光束经起偏器转换为S线偏振光；步骤三、S线偏振光经过准直镜和模式匹配镜入射到谐振腔内，并在腔内谐振累积能量；步骤四、使用探测器接收谐振腔出射光，当光强达到设定上阈值时，关闭半导体激光器，开始衰荡过程；步骤五、当探测器接收到的能量达到设定的下阈值，认为衰荡过程结束，记录由上阈值到下阈值之间的衰荡时间，通过朗伯比尔定律计算气体浓度。本发明可以剔除P光分量对衰荡的影响，提高测量精度。
其他摘要	本发明公开了一种提高腔体谐振衰荡测量精度的方法，包括以下步骤：步骤一、开启连续波长激光器，通过调整驱动电流和温度使其工作在目标波长，并使用波长监测器锁定；步骤二、激光光束经起偏器转换为S线偏振光；步骤三、S线偏振光经过准直镜和模式匹配镜入射到谐振腔内，并在腔内谐振累积能量；步骤四、使用探测器接收谐振腔出射光，当光强达到设定上阈值时，关闭半导体激光器，开始衰荡过程；步骤五、当探测器接收到的能量达到设定的下阈值，认为衰荡过程结束，记录由上阈值到下阈值之间的衰荡时间，通过朗伯比尔定律计算气体浓度。本发明可以剔除P光分量对衰荡的影响，提高测量精度。
申请日期	2014-12-17
专利号	CN104515750A
专利状态	失效
申请号	CN201410787509
公开（公告）号	CN104515750A
IPC 分类号	G01N21/39
专利代理人	张伟
代理机构	长春菁华专利商标代理事务所
文献类型	专利
条目标识符	http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/91685
专题	半导体激光器专利数据库
作者单位	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
推荐引用方式 GB/T 7714	朱小明,王晓东,颜昌翔,等. 一种提高腔体谐振衰荡测量精度的方法. CN104515750A[P]. 2015-04-15.

条目包含的文件
文件名称/大小	文献类型	版本类型	开放类型	使用许可
CN104515750A.PDF（238KB）	专利		开放获取	CC BY-NC-SA	请求全文