Xi'an Institute of Optics and Precision Mechanics,CAS
半导体激光自混合次声波检测装置及检测方法 | |
其他题名 | 半导体激光自混合次声波检测装置及检测方法 |
李成伟; 黄贞; 孙晓刚 | |
2012-10-10 | |
专利权人 | 哈尔滨工业大学 |
公开日期 | 2012-10-10 |
授权国家 | 中国 |
专利类型 | 发明申请 |
摘要 | 本发明公开一种半导体激光自混合次声波检测装置,包括内部封装光电探测器的半导体激光器、激光器调整架、准直透镜、会聚透镜和灵敏反光膜片、激光器驱动电路、信号预处理电路、声卡、数据处理单元和输出终端;灵敏反光膜片置于次声波声场区域内,半导体激光器产生的光经准直透镜后变为平行光,经会聚透镜会聚到振膜表面,调节激光器调整架使部分光被振膜表面反射回激光腔内,与激光腔内的光产生自混合;自混合光强由光电探测器检测出且转换为电压信号,由声卡采集转换为数字信号,再由数据处理单元处理输出测量结果。其不需要传统激光干涉仪的分光计和参考镜等辅助光学元件,结构紧凑简单,对器件的加工精度要求不高,制作成本低且操作简单。 |
其他摘要 | 本发明公开一种半导体激光自混合次声波检测装置,包括内部封装光电探测器的半导体激光器、激光器调整架、准直透镜、会聚透镜和灵敏反光膜片、激光器驱动电路、信号预处理电路、声卡、数据处理单元和输出终端;灵敏反光膜片置于次声波声场区域内,半导体激光器产生的光经准直透镜后变为平行光,经会聚透镜会聚到振膜表面,调节激光器调整架使部分光被振膜表面反射回激光腔内,与激光腔内的光产生自混合;自混合光强由光电探测器检测出且转换为电压信号,由声卡采集转换为数字信号,再由数据处理单元处理输出测量结果。其不需要传统激光干涉仪的分光计和参考镜等辅助光学元件,结构紧凑简单,对器件的加工精度要求不高,制作成本低且操作简单。 |
申请日期 | 2012-06-25 |
专利号 | CN102721461A |
专利状态 | 失效 |
申请号 | CN201210210244.3 |
公开(公告)号 | CN102721461A |
IPC 分类号 | G01H9/00 |
专利代理人 | 刘大弯 |
代理机构 | 深圳市凯达知识产权事务所 |
文献类型 | 专利 |
条目标识符 | http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/91299 |
专题 | 半导体激光器专利数据库 |
作者单位 | 哈尔滨工业大学 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 李成伟,黄贞,孙晓刚. 半导体激光自混合次声波检测装置及检测方法. CN102721461A[P]. 2012-10-10. |
条目包含的文件 | ||||||
文件名称/大小 | 文献类型 | 版本类型 | 开放类型 | 使用许可 | ||
CN102721461A.PDF(439KB) | 专利 | 开放获取 | CC BY-NC-SA | 请求全文 |
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