利用受激布里渊光损耗机制的高精度光谱分析仪

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	利用受激布里渊光损耗机制的高精度光谱分析仪
其他题名	利用受激布里渊光损耗机制的高精度光谱分析仪
	李裔; 张震伟; 叶兰芝; 张彩霞
	2012-10-03
专利权人	中国计量学院
公开日期	2012-10-03
授权国家	中国
专利类型	发明申请
摘要	本发明公开了一种利用全波光纤中受激布里渊光损耗机制的高精度光谱分析仪，利用全波光纤固有的窄受激布里渊散射峰线宽的特性，基于光纤中受激布里渊散射光损耗效应，探测扫描激光器(TLS)的输出光在与待测信号(SUT)光在全波光纤中发生受激布里渊散射相互作用时光功率损耗来进行光谱测量与分析，并由此得到待测信号(SUT)光的超高精度频谱图。在光谱分析过程中，使用恒温装置来消除光纤中受激布里渊散射由于温度改变而引起的频移量(约11GHz)漂移，由此进一步提高光谱分析仪的精度及可靠性，同时创新性地使用温度及驱动电流可调谐的分布反馈式半导体激光器作为波长扫描激光光源，使得光谱分析仪具有低成本，高可靠性和灵活方便的特点。
其他摘要	本发明公开了一种利用全波光纤中受激布里渊光损耗机制的高精度光谱分析仪，利用全波光纤固有的窄受激布里渊散射峰线宽的特性，基于光纤中受激布里渊散射光损耗效应，探测扫描激光器(TLS)的输出光在与待测信号(SUT)光在全波光纤中发生受激布里渊散射相互作用时光功率损耗来进行光谱测量与分析，并由此得到待测信号(SUT)光的超高精度频谱图。在光谱分析过程中，使用恒温装置来消除光纤中受激布里渊散射由于温度改变而引起的频移量(约11GHz)漂移，由此进一步提高光谱分析仪的精度及可靠性，同时创新性地使用温度及驱动电流可调谐的分布反馈式半导体激光器作为波长扫描激光光源，使得光谱分析仪具有低成本，高可靠性和灵活方便的特点。
申请日期	2012-07-02
专利号	CN102706451A
专利状态	授权
申请号	CN201210233884.6
公开（公告）号	CN102706451A
IPC 分类号	G01J3/44
专利代理人	-
代理机构	-
文献类型	专利
条目标识符	http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/91295
专题	半导体激光器专利数据库
作者单位	中国计量学院
推荐引用方式 GB/T 7714	李裔,张震伟,叶兰芝,等. 利用受激布里渊光损耗机制的高精度光谱分析仪. CN102706451A[P]. 2012-10-03.

条目包含的文件
文件名称/大小	文献类型	版本类型	开放类型	使用许可
CN102706451A.PDF（509KB）	专利		开放获取	CC BY-NC-SA	请求全文