Xi'an Institute of Optics and Precision Mechanics,CAS
| 基于波长调制光谱技术的真空环境下温度测量方法 | |
| 其他题名 | 基于波长调制光谱技术的真空环境下温度测量方法 |
| 丁艳军; 彭志敏; 周佩丽 | |
| 2013-09-18 | |
| 专利权人 | 清华大学 |
| 公开日期 | 2013-09-18 |
| 授权国家 | 中国 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 摘要 | 基于波长调制光谱技术的真空环境下温度测量方法，属于可调谐激光二极管吸收光谱技术领域。该方法基于波长调制光谱技术利用高频正弦波、低频三角波和低频方波对激光器进行调制，使选择的两条测温谱线分别出现在方波信号的高电平处和低电平处，三角波实现谱线扫描，实验测量得到两条谱线的二次谐波信号比值，并将其与理论计算值进行比较确定气体分子的转动温度，由于转动温度与平动温度(经典热力学温度)时刻保持平衡，从而可以实现气体温度测量。该方法解决了目前接触式温度传感器在真空环境下应用所遇到的表面材料解析、温度溯源性问题。 |
| 其他摘要 | 基于波长调制光谱技术的真空环境下温度测量方法，属于可调谐激光二极管吸收光谱技术领域。该方法基于波长调制光谱技术利用高频正弦波、低频三角波和低频方波对激光器进行调制，使选择的两条测温谱线分别出现在方波信号的高电平处和低电平处，三角波实现谱线扫描，实验测量得到两条谱线的二次谐波信号比值，并将其与理论计算值进行比较确定气体分子的转动温度，由于转动温度与平动温度(经典热力学温度)时刻保持平衡，从而可以实现气体温度测量。该方法解决了目前接触式温度传感器在真空环境下应用所遇到的表面材料解析、温度溯源性问题。 |
| 申请日期 | 2013-05-06 |
| 专利号 | CN103308186A |
| 专利状态 | 失效 |
| 申请号 | CN201310162719.0 |
| 公开（公告）号 | CN103308186A |
| IPC 分类号 | G01J5/58 |
| 专利代理人 | 邸更岩 |
| 代理机构 | 北京鸿元知识产权代理有限公司 |
| 文献类型 | 专利 |
| 条目标识符 | http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/91233 |
| 专题 | 半导体激光器专利数据库 |
| 作者单位 | 清华大学 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 丁艳军,彭志敏,周佩丽. 基于波长调制光谱技术的真空环境下温度测量方法. CN103308186A[P]. 2013-09-18. |
| 条目包含的文件 | ||||||
| 文件名称/大小 | 文献类型 | 版本类型 | 开放类型 | 使用许可 | ||
| CN103308186A.PDF（566KB） | 专利 | 开放获取 | CC BY-NC-SA | 请求全文 | ||
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