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基于同步扫描和频半导体激光的汞气检测装置
其他题名基于同步扫描和频半导体激光的汞气检测装置
娄秀涛; 张铁; 林宏泽; 万莉; 王俊楠; 何赛灵
2017-02-15
专利权人苏州瑞蓝环保科技有限公司
公开日期2017-02-15
授权国家中国
专利类型发明申请
摘要本发明提出了一种基于两只半导体激光器的气态元素汞浓度检测装置,包括激光器控制器,红光半导体激光器,蓝光半导体激光器,二色向镜,消色差凸透镜,偏硼酸钡(BBO)晶体,凸透镜,紫外高反镜,分光镜,参考汞池,零气气池,样品汞池,可切换汞池座,探测器,信号控制分析器,所涵盖的技术主要是内插法,实现了对元素汞浓度的实时监测,满足工业汞排放监测需求。
其他摘要本发明提出了一种基于两只半导体激光器的气态元素汞浓度检测装置,包括激光器控制器,红光半导体激光器,蓝光半导体激光器,二色向镜,消色差凸透镜,偏硼酸钡(BBO)晶体,凸透镜,紫外高反镜,分光镜,参考汞池,零气气池,样品汞池,可切换汞池座,探测器,信号控制分析器,所涵盖的技术主要是内插法,实现了对元素汞浓度的实时监测,满足工业汞排放监测需求。
申请日期2016-09-28
专利号CN106404690A
专利状态申请中
申请号CN201610853914.1
公开(公告)号CN106404690A
IPC 分类号G01N21/31
专利代理人汪旭东
代理机构南京知识律师事务所
文献类型专利
条目标识符http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/90959
专题半导体激光器专利数据库
作者单位苏州瑞蓝环保科技有限公司
推荐引用方式
GB/T 7714
娄秀涛,张铁,林宏泽,等. 基于同步扫描和频半导体激光的汞气检测装置. CN106404690A[P]. 2017-02-15.
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