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Ⅲ-Ⅴ族氮化物半导体基板的制造方法
其他题名Ⅲ-Ⅴ族氮化物半导体基板的制造方法
上田和正; 西川直宏; 笠原健司
2009-05-13
专利权人住友化学株式会社
公开日期2009-05-13
授权国家中国
专利类型发明申请
摘要本发明涉及III-V族氮化物半导体基板的制造方法。本发明的III-V族氮化物半导体基板的制造方法包括工序(I-1)~(I-6):(I-1)在衬底基板上配置无机粒子;(I-2)以无机粒子为蚀刻掩模,干法蚀刻衬底基板,在衬底基板上形成凸部;(I-3)在衬底基板上形成外延生长掩模用的被膜;(I-4)去除无机粒子形成衬底基板的露出面;(I-5)在衬底基板的露出面上生长III-V族氮化物半导体;(I-6)将III-V族氮化物半导体与衬底基板分离。此外,本发明的III-V族氮化物半导体基板的制造方法包括工序(II-1)~(II-7):(II-1)在衬底基板上配置无机粒子;(II-2)以无机粒子为蚀刻掩模,干法蚀刻衬底基板,在衬底基板上形成凸部;(II-3)去除无机粒子;(II-4)在衬底基板上形成外延生长掩模用的被膜;(II-5)去除凸部的顶部的被膜形成衬底基板的露出面;(II-6)在衬底基板的露出面上生长III-V族氮化物半导体;(II-7)将III-V族氮化物半导体与衬底基板分离。
其他摘要本发明涉及III-V族氮化物半导体基板的制造方法。本发明的III-V族氮化物半导体基板的制造方法包括工序(I-1)~(I-6):(I-1)在衬底基板上配置无机粒子;(I-2)以无机粒子为蚀刻掩模,干法蚀刻衬底基板,在衬底基板上形成凸部;(I-3)在衬底基板上形成外延生长掩模用的被膜;(I-4)去除无机粒子形成衬底基板的露出面;(I-5)在衬底基板的露出面上生长III-V族氮化物半导体;(I-6)将III-V族氮化物半导体与衬底基板分离。此外,本发明的III-V族氮化物半导体基板的制造方法包括工序(II-1)~(II-7):(II-1)在衬底基板上配置无机粒子;(II-2)以无机粒子为蚀刻掩模,干法蚀刻衬底基板,在衬底基板上形成凸部;(II-3)去除无机粒子;(II-4)在衬底基板上形成外延生长掩模用的被膜;(II-5)去除凸部的顶部的被膜形成衬底基板的露出面;(II-6)在衬底基板的露出面上生长III-V族氮化物半导体;(II-7)将III-V族氮化物半导体与衬底基板分离。
申请日期2007-03-08
专利号CN101432850A
专利状态授权
申请号CN200780008086.0
公开(公告)号CN101432850A
IPC 分类号H01L21/205 | C30B29/38 | H01L33/00 | H01S5/323 | H01L33/32
专利代理人朱丹
代理机构中科专利商标代理有限责任公司
文献类型专利
条目标识符http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/90301
专题半导体激光器专利数据库
作者单位住友化学株式会社
推荐引用方式
GB/T 7714
上田和正,西川直宏,笠原健司. Ⅲ-Ⅴ族氮化物半导体基板的制造方法. CN101432850A[P]. 2009-05-13.
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