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半导体器件及其制造方法
其他题名半导体器件及其制造方法
神川刚; 山田英司; 荒木正浩
2008-02-06
专利权人夏普株式会社
公开日期2008-02-06
授权国家中国
专利类型发明申请
摘要在具有形成于其上的作为凹陷部分的刻槽区域的已处理衬底上,布置氮化物半导体薄膜。填充所述凹陷部分的所述氮化物半导体薄膜占据的截面面积为所述凹陷部分的截面面积的0.8倍或更低。
其他摘要在具有形成于其上的作为凹陷部分的刻槽区域的已处理衬底上,布置氮化物半导体薄膜。填充所述凹陷部分的所述氮化物半导体薄膜占据的截面面积为所述凹陷部分的截面面积的0.8倍或更低。
申请日期2005-05-10
专利号CN101119012A
专利状态授权
申请号CN200710149024.3
公开(公告)号CN101119012A
IPC 分类号H01S5/22 | H01S5/223 | H01S5/30 | H01S5/323 | H01L33/00 | C23C16/34
专利代理人葛青
代理机构北京市柳沈律师事务所
文献类型专利
条目标识符http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/90095
专题半导体激光器专利数据库
作者单位夏普株式会社
推荐引用方式
GB/T 7714
神川刚,山田英司,荒木正浩. 半导体器件及其制造方法. CN101119012A[P]. 2008-02-06.
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文件名称/大小 文献类型 版本类型 开放类型 使用许可
CN101119012A.PDF(3136KB)专利 开放获取CC BY-NC-SA请求全文
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