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一种含隧道结的垂直腔型光电子器件
其他题名一种含隧道结的垂直腔型光电子器件
吴惠桢; 黄占超; 劳燕锋; 刘成; 齐鸣; 封松林
2006-05-31
专利权人中国科学院上海微系统与信息技术研究所
公开日期2006-05-31
授权国家中国
专利类型发明申请
摘要本发明涉及一种垂直腔型半导体光电子器件,其特征在于将隧道结置于垂直腔型半导体光电子器件的微腔中,利用隧道结的反向电流遂穿特性,实现用N型的分布反馈布拉格腔镜(DBR)取代P型的DBR腔镜,能有效降低垂直腔器件的串联电阻,限制侧向电流的扩散,提高电流注入有源区的均匀性,降低器件的阈值电流密度,改善器件的热特性,隧道结的材料采用均匀掺杂或多次δ掺杂,垂直腔型半导体光电子器件的顶部和底部腔镜采用III-V族半导体多层薄膜膜构成的DBR、光学介质膜DBR、高反射率金属膜、半导体薄膜/空气隙DBR中的一种,或他们的组合;微腔中的有源区采用MBE或MOCVD生长的InGaAs、InGaAsP、AlGaInAs或InGaNAs系列量子阱。
其他摘要本发明涉及一种垂直腔型半导体光电子器件,其特征在于将隧道结置于垂直腔型半导体光电子器件的微腔中,利用隧道结的反向电流遂穿特性,实现用N型的分布反馈布拉格腔镜(DBR)取代P型的DBR腔镜,能有效降低垂直腔器件的串联电阻,限制侧向电流的扩散,提高电流注入有源区的均匀性,降低器件的阈值电流密度,改善器件的热特性,隧道结的材料采用均匀掺杂或多次δ掺杂,垂直腔型半导体光电子器件的顶部和底部腔镜采用III-V族半导体多层薄膜膜构成的DBR、光学介质膜DBR、高反射率金属膜、半导体薄膜/空气隙DBR中的一种,或他们的组合;微腔中的有源区采用MBE或MOCVD生长的InGaAs、InGaAsP、AlGaInAs或InGaNAs系列量子阱。
申请日期2005-10-19
专利号CN1780004A
专利状态失效
申请号CN200510030638.0
公开(公告)号CN1780004A
IPC 分类号H01L31/101 | H01L31/18 | H01S5/10
专利代理人潘振甦
代理机构上海智信专利代理有限公司
文献类型专利
条目标识符http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/89972
专题半导体激光器专利数据库
作者单位中国科学院上海微系统与信息技术研究所
推荐引用方式
GB/T 7714
吴惠桢,黄占超,劳燕锋,等. 一种含隧道结的垂直腔型光电子器件. CN1780004A[P]. 2006-05-31.
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CN1780004A.PDF(730KB)专利 开放获取CC BY-NC-SA请求全文
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