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半導体発光素子およびその製造方法ならびに光記録および/または光再生装置
其他题名半導体発光素子およびその製造方法ならびに光記録および/または光再生装置
石橋 晃; 谷口 理; 日野 智公; 小林 高志; 中野 一志; 中山 典一; 戸田 淳; 塚本 弘範; 牧野 桜子
1998-07-21
专利权人SONY CORP
公开日期1998-07-21
授权国家日本
专利类型发明申请
摘要【課題】 特性が良好で、信頼性が高く、かつ長寿命の半導体発光素子およびその製造方法ならびにそのような半導体発光素子を発光素子として用いた光記録および/または再生装置を提供する。 【解決手段】 II-VI族化合物半導体を用いた半導体発光素子において、少なくとも活性層7にうねりを存在させ、p型コンタクト層11、12、13は平坦とする。うねりの高さの標準偏差は例えば1〜3nm程度である。また、半導体発光素子の製造において、クラッド層5、9、光導波層6、8、活性層7、p型コンタクト層11、12、13などを成長させる際のII族元素の分子線の強度に対するVI族元素の分子線の強度の比を、成長させる層に応じて変化させて最適化する。
其他摘要要解决的问题:提供具有优异特性和长使用寿命的高可靠性半导体发光元件,制造该元件的方法和使用该光元件作为发光元件的光学记录和/或再现装置。解决方案:在使用II-VI化合物半导体的半导体发光元件中,至少活性层7形成为具有凹凸表面,p型接触层11,12和13形成为具有平坦表面。有源层7的凹凸表面的高度的标准偏差被调整为例如约1-3nm。此外,VI族元素的分子束的强度与II族元素的分子束的强度的比率通过根据当包覆层5和9时生长的层改变比率而优化,引导层6和8,有源层7,接触层11,12和13等,用于制造半导体发光元件。
申请日期1997-10-22
专利号JP1998190154A
专利状态失效
申请号JP1997289724
公开(公告)号JP1998190154A
IPC 分类号H01L33/06 | H01L33/30 | H01L33/14 | H01S5/00 | H01L33/28 | H01S3/18 | H01L33/00
专利代理人杉浦 正知
代理机构-
文献类型专利
条目标识符http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/87094
专题半导体激光器专利数据库
作者单位SONY CORP
推荐引用方式
GB/T 7714
石橋 晃,谷口 理,日野 智公,等. 半導体発光素子およびその製造方法ならびに光記録および/または光再生装置. JP1998190154A[P]. 1998-07-21.
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