Xi'an Institute of Optics and Precision Mechanics,CAS
| 速度变化测量装置及方法 | |
| 其他题名 | 速度变化测量装置及方法 |
| 上野达也 | |
| 2016-01-27 | |
| 专利权人 | 阿自倍尔株式会社 |
| 公开日期 | 2016-01-27 |
| 授权国家 | 中国 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 摘要 | 提供一种提高表面速度的变化的测量精度的速度变化测量装置和速度变化测量方法，其具有：使半导体激光器(1)振荡的激光驱动器(4)；计数部(7)，其对将半导体激光器(1)的输出转换成电信号的光电二极管(2)的输出中所包含干扰波形进行2值化的2值化信号的游程进行计数；根据计数部(7)的计数结果，对卷料(11)的表面速度的变化进行计算的运算部(8)。计数部(7)将干扰波形与取样时钟同步进行2值化，在各个基准期间和比较期间，对2值化信号的游程进行测量，就各个基准期间和比较期间制作游程的频数分布，根据频数分布，对各个基准期间和比较期间，求出阈值Th以上的游程的数的总和。 |
| 其他摘要 | 提供一种提高表面速度的变化的测量精度的速度变化测量装置和速度变化测量方法，其具有：使半导体激光器(1)振荡的激光驱动器(4)；计数部(7)，其对将半导体激光器(1)的输出转换成电信号的光电二极管(2)的输出中所包含干扰波形进行2值化的2值化信号的游程进行计数；根据计数部(7)的计数结果，对卷料(11)的表面速度的变化进行计算的运算部(8)。计数部(7)将干扰波形与取样时钟同步进行2值化，在各个基准期间和比较期间，对2值化信号的游程进行测量，就各个基准期间和比较期间制作游程的频数分布，根据频数分布，对各个基准期间和比较期间，求出阈值Th以上的游程的数的总和。 |
| 申请日期 | 2015-07-01 |
| 专利号 | CN105277945A |
| 专利状态 | 授权 |
| 申请号 | CN201510378485.2 |
| 公开（公告）号 | CN105277945A |
| IPC 分类号 | G01S17/32 | G01P3/36 | G01S17/58 | G01S7/491 | G01P3/50 |
| 专利代理人 | 肖华 |
| 代理机构 | 上海市华诚律师事务所 |
| 文献类型 | 专利 |
| 条目标识符 | http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/86386 |
| 专题 | 半导体激光器专利数据库 |
| 作者单位 | 阿自倍尔株式会社 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 上野达也. 速度变化测量装置及方法. CN105277945A[P]. 2016-01-27. |
| 条目包含的文件 | ||||||
| 文件名称/大小 | 文献类型 | 版本类型 | 开放类型 | 使用许可 | ||
| CN105277945A.PDF（1468KB） | 专利 | 开放获取 | CC BY-NC-SA | 请求全文 | ||
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