| A Novel Image Quality Metric Based on Morphological Component Analysis | |
| Li XL(李学龙); L. He; W. Lu; X. Gao; D. Tao; Li XL(李学龙) | |
| 2010 | |
| 会议名称 | IEEE International Conference on Systems, Man, and Cybernetics (SMC) |
| 会议日期 | 2010 |
| 会议地点 | Harbiye Military Museum and Cultural Center Istanbul, Turkey |
| 关键词 | Image Quality Measurement Morphological Component Analysis Texture Cartoon Component Jnd |
| 学科领域 | 信号与模式识别 |
| 收录类别 | 其他 |
| 语种 | 英语 |
| ISSN号 | 4244-6588 |
| 文献类型 | 会议论文 |
| 条目标识符 | http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/8556 |
| 专题 | 光谱成像技术研究室 |
| 通讯作者 | Li XL(李学龙) |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | Li XL,L. He,W. Lu,et al. A Novel Image Quality Metric Based on Morphological Component Analysis[C],2010. |
| 条目包含的文件 | ||||||
| 文件名称/大小 | 文献类型 | 版本类型 | 开放类型 | 使用许可 | ||
| Li2010-IEEE SMC-A No（1513KB） | 限制开放 | 使用许可 | 请求全文 | |||
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