OPT OpenIR  > 半导体激光器专利数据库
半导体激光器巴条单元一致性检测仪及其检测方法
其他题名半导体激光器巴条单元一致性检测仪及其检测方法
曹军胜; 高志坚; 尹红贺
2016-07-20
专利权人中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
公开日期2016-07-20
授权国家中国
专利类型发明申请
摘要半导体激光器巴条单元一致性检测仪及其检测方法,属于半导体激光器的检测技术领域,为了检测激光器巴条各单元光电特性的均匀性,将探针台、光学透镜和线阵CCD均安装于一维导轨上;线阵CCD和程控电流源均与微控制器系统连接;被测巴条安装于探针台上,程控电流源的输出端连接探针台的电极,电极与被测巴条连接;微控制器系统控制程控电流源驱动被测巴条,被测巴条的各发光点经过光学透镜成像于线阵CCD,微控制器系统通过线阵CCD采集被测巴条各发光点的亮度峰值,扫描电流每增大一步,微控制器系统就读取一次线阵CCD,直至有发光点的亮度峰值达到线阵CCD的饱和值为止;微控制器系统以被测巴条各发光点的亮度为样本计算其方差。
其他摘要半导体激光器巴条单元一致性检测仪及其检测方法,属于半导体激光器的检测技术领域,为了检测激光器巴条各单元光电特性的均匀性,将探针台、光学透镜和线阵CCD均安装于一维导轨上;线阵CCD和程控电流源均与微控制器系统连接;被测巴条安装于探针台上,程控电流源的输出端连接探针台的电极,电极与被测巴条连接;微控制器系统控制程控电流源驱动被测巴条,被测巴条的各发光点经过光学透镜成像于线阵CCD,微控制器系统通过线阵CCD采集被测巴条各发光点的亮度峰值,扫描电流每增大一步,微控制器系统就读取一次线阵CCD,直至有发光点的亮度峰值达到线阵CCD的饱和值为止;微控制器系统以被测巴条各发光点的亮度为样本计算其方差。
申请日期2016-02-29
专利号CN105784330A
专利状态授权
申请号CN201610110814.X
公开(公告)号CN105784330A
IPC 分类号G01M11/02
专利代理人刘慧宇
代理机构长春菁华专利商标代理事务所
文献类型专利
条目标识符http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/85510
专题半导体激光器专利数据库
作者单位中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
推荐引用方式
GB/T 7714
曹军胜,高志坚,尹红贺. 半导体激光器巴条单元一致性检测仪及其检测方法. CN105784330A[P]. 2016-07-20.
条目包含的文件
文件名称/大小 文献类型 版本类型 开放类型 使用许可
CN105784330A.PDF(89KB)专利 开放获取CC BY-NC-SA请求全文
个性服务
推荐该条目
保存到收藏夹
查看访问统计
导出为Endnote文件
谷歌学术
谷歌学术中相似的文章
[曹军胜]的文章
[高志坚]的文章
[尹红贺]的文章
百度学术
百度学术中相似的文章
[曹军胜]的文章
[高志坚]的文章
[尹红贺]的文章
必应学术
必应学术中相似的文章
[曹军胜]的文章
[高志坚]的文章
[尹红贺]的文章
相关权益政策
暂无数据
收藏/分享
所有评论 (0)
暂无评论
 

除非特别说明,本系统中所有内容都受版权保护,并保留所有权利。