Xi'an Institute of Optics and Precision Mechanics,CAS
半导体激光器巴条单元一致性检测仪及其检测方法 | |
其他题名 | 半导体激光器巴条单元一致性检测仪及其检测方法 |
曹军胜; 高志坚; 尹红贺 | |
2016-07-20 | |
专利权人 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
公开日期 | 2016-07-20 |
授权国家 | 中国 |
专利类型 | 发明申请 |
摘要 | 半导体激光器巴条单元一致性检测仪及其检测方法,属于半导体激光器的检测技术领域,为了检测激光器巴条各单元光电特性的均匀性,将探针台、光学透镜和线阵CCD均安装于一维导轨上;线阵CCD和程控电流源均与微控制器系统连接;被测巴条安装于探针台上,程控电流源的输出端连接探针台的电极,电极与被测巴条连接;微控制器系统控制程控电流源驱动被测巴条,被测巴条的各发光点经过光学透镜成像于线阵CCD,微控制器系统通过线阵CCD采集被测巴条各发光点的亮度峰值,扫描电流每增大一步,微控制器系统就读取一次线阵CCD,直至有发光点的亮度峰值达到线阵CCD的饱和值为止;微控制器系统以被测巴条各发光点的亮度为样本计算其方差。 |
其他摘要 | 半导体激光器巴条单元一致性检测仪及其检测方法,属于半导体激光器的检测技术领域,为了检测激光器巴条各单元光电特性的均匀性,将探针台、光学透镜和线阵CCD均安装于一维导轨上;线阵CCD和程控电流源均与微控制器系统连接;被测巴条安装于探针台上,程控电流源的输出端连接探针台的电极,电极与被测巴条连接;微控制器系统控制程控电流源驱动被测巴条,被测巴条的各发光点经过光学透镜成像于线阵CCD,微控制器系统通过线阵CCD采集被测巴条各发光点的亮度峰值,扫描电流每增大一步,微控制器系统就读取一次线阵CCD,直至有发光点的亮度峰值达到线阵CCD的饱和值为止;微控制器系统以被测巴条各发光点的亮度为样本计算其方差。 |
申请日期 | 2016-02-29 |
专利号 | CN105784330A |
专利状态 | 授权 |
申请号 | CN201610110814.X |
公开(公告)号 | CN105784330A |
IPC 分类号 | G01M11/02 |
专利代理人 | 刘慧宇 |
代理机构 | 长春菁华专利商标代理事务所 |
文献类型 | 专利 |
条目标识符 | http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/85510 |
专题 | 半导体激光器专利数据库 |
作者单位 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 曹军胜,高志坚,尹红贺. 半导体激光器巴条单元一致性检测仪及其检测方法. CN105784330A[P]. 2016-07-20. |
条目包含的文件 | ||||||
文件名称/大小 | 文献类型 | 版本类型 | 开放类型 | 使用许可 | ||
CN105784330A.PDF(89KB) | 专利 | 开放获取 | CC BY-NC-SA | 请求全文 |
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