Xi'an Institute of Optics and Precision Mechanics,CAS
半導体装置 | |
其他题名 | 半導体装置 |
中井 建弥 | |
1995-12-18 | |
专利权人 | 富士通株式会社 |
公开日期 | 1995-12-18 |
授权国家 | 日本 |
专利类型 | 授权发明 |
摘要 | PURPOSE:To readily integrated OEIC by forming a reverse mesa groove which extends toward the interior from the surface in sectional shape on a substrate, burying a semiconductor layer having high impurity density in the substance in the groove, and growing a crystal on the layer to complete the current narrowing of a laser. CONSTITUTION:With an SiO2 layer opened in a stripe shape by a photoprocess as a mask a reverse mesa groove 2 is formed by etching on an ion-doped SI-InP substrate Then, N type InP layer 3 of 2-3X10cm of carrier density is buried by a CVD method. The SiO2 layer on the substrate is removed, and an InGaAsP layer 4 of active layer, a P-type InP layer 5 of P-type clad layer and an N-type InP layer 6 of N-type clad layer are sequentially grown. Then, HR-InP layer 8 are grown at both sides of a laser active unit, P type diffused regions 7, electrode 8 are formed, unnecessary portion of a grown layer is mesa etched to be removed. Thus, the depth of the groove 2 is increased, the back surface of the substrate is polished to exposed the buried N type InP layer 3, and an N-type side electrode is formed. Thus, a structure with complete current narrowing is obtained. |
其他摘要 | 目的:通过在基板上形成从表面以截面形状向内部延伸的反向台面凹槽,在凹槽中的物质中掩埋具有高杂质密度的半导体层,并在层上生长晶体,从而容易地集成OEIC完成当前缩小的激光。组成:通过光学过程作为掩模以条形形状打开SiO2层,通过在离子掺杂的SI-InP衬底1上蚀刻形成反向台面凹槽2.然后,2 +的N +型InP层3通过CVD方法掩埋3×10 18 cm -3的载流子密度。去除衬底上的SiO2层,依次生长有源层的InGaAsP层4,P型覆层的P型InP层5和N型覆层的N型InP层6。然后,在激光有源单元的两侧生长HR-InP层8,形成P +型扩散区7,电极8,对生长层的不需要部分进行台面蚀刻以除去。因此,沟槽2的深度增加,基板的背面被抛光以暴露掩埋的N +型InP层3,并形成N型侧电极。因此,获得了具有完全电流变窄的结构。 |
申请日期 | 1985-11-15 |
专利号 | JP1995118561B2 |
专利状态 | 失效 |
申请号 | JP1985255942 |
公开(公告)号 | JP1995118561B2 |
IPC 分类号 | H01L27/15 | H01S | H01L | H01S5/00 | H01S5/026 | H01S3/18 |
专利代理人 | 井桁 貞一 |
代理机构 | - |
文献类型 | 专利 |
条目标识符 | http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/84841 |
专题 | 半导体激光器专利数据库 |
作者单位 | 富士通株式会社 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 中井 建弥. 半導体装置. JP1995118561B2[P]. 1995-12-18. |
条目包含的文件 | ||||||
文件名称/大小 | 文献类型 | 版本类型 | 开放类型 | 使用许可 | ||
JP1987115885A.PDF(187KB) | 专利 | 开放获取 | CC BY-NC-SA | 请求全文 |
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