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Manufacture of semiconductor laser
其他题名Manufacture of semiconductor laser
IWANO HIDEAKI
1987-06-25
专利权人SEIKO EPSON CORP
公开日期1987-06-25
授权国家日本
专利类型发明申请
摘要PURPOSE:To simplify manufacturing processes remarkably, by carrying out a film forming process and an etching process of a compound semiconductor thin film in the same vacuum container. CONSTITUTION:An n-type GaAs substrate 101 is provided on a carbon susceptor, which is placed in a vacuum container in a compound semiconductor thin film manufacturing apparatus using an MOCVD method. After evacuation, an organic metal compound, which is to become a raw material gas, and raw material gas for a group V element such as arsine AsH3 are introduced in the vacuum container. The GaAs substrate 101 is heated by heating method of high frequency induction heating and the like. Then, the following layers are sequentially laminated at appropriate ratios: an n-type GaAs buffer layer 102, an n-type GaAlAs clad layer 103, a GaAs active layer 104, a p-type CaAlAs clad layer 105, and an n-type GaAs blocking layer 106.
其他摘要用途:通过在同一真空容器中进行化合物半导体薄膜的成膜工艺和蚀刻工艺,显着简化制造工艺。组成:在碳基座上提供n型GaAs基板101,其使用MOCVD方法放置在化合物半导体薄膜制造设备中的真空容器中。抽真空后,在真空容器中导入作为原料气体的有机金属化合物和砷化氢AsH 3等V族元素的原料气体。通过高频感应加热等的加热方法加热GaAs衬底101。然后,以适当的比例依次层叠以下层:n型GaAs缓冲层102,n型GaAlAs包层103,GaAs有源层104,p型CaAlAs包层105和n型GaAs阻挡层106。
申请日期1985-12-17
专利号JP1987142385A
专利状态失效
申请号JP1985283784
公开(公告)号JP1987142385A
IPC 分类号H01L21/302 | H01L21/205 | H01L21/306 | H01S5/00 | H01S3/18
专利代理人-
代理机构-
文献类型专利
条目标识符http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/84391
专题半导体激光器专利数据库
作者单位SEIKO EPSON CORP
推荐引用方式
GB/T 7714
IWANO HIDEAKI. Manufacture of semiconductor laser. JP1987142385A[P]. 1987-06-25.
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