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Semiconductor laser
其他题名Semiconductor laser
YAGI TETSUYA
1988-10-31
专利权人MITSUBISHI ELECTRIC CORP
公开日期1988-10-31
授权国家日本
专利类型发明申请
摘要PURPOSE:To hardly perform the absorption of a laser light at the end face of a laser and to increase a COD level by doping more than the quantity of P-type inverting a P-type impurity near the end face from the surface of the laser to a level of one half of an N-type second clad layer. CONSTITUTION:An impurity is so doped that a P-type is obtained from the surface of a laser near the end face of the laser to one half of an N-type second clad layer 6. Since a P-type-doped layer near the end face composes a P-N-P structure of this section, the clad layer 6 disposed directly below, a P-type active layer 5 and a P-type first clad layer 4, and a current flowing to the vicinity of the end face is blocked. Thus, it can prevent a laser light from being absorbed due to the heat generation at the end face owing to the current flowing near the end face, a laser light at the end face of a chip is absorbed to increase a so-called COD level in which the end face is damaged. Thus, the COD level can be raised without reducing the thickness of the active layer.
其他摘要用途:难以在激光器的端面吸收激光,并且通过掺杂超过P型的量来增加COD水平从反射器端面附近的P型杂质反转端面附近的P型杂质到N型第二包层的一半的水平。组成:掺杂杂质使得从激光器端面附近的激光器表面到N型第二包层6的一半获得P型。由于P型掺杂层靠近端面构成该部分的PNP结构,直接设置在下面的包层6,P型有源层5和P型第一包层4,并且阻挡流向端面附近的电流。因此,由于在端面附近流动的电流,可以防止激光由于端面处的热量而被吸收,芯片端面的激光被吸收,从而增加所谓的COD水平端面损坏的地方。因此,可以在不减小有源层厚度的情况下提高COD水平。
申请日期1987-04-22
专利号JP1988263790A
专利状态失效
申请号JP1987100611
公开(公告)号JP1988263790A
IPC 分类号H01S5/00 | H01S3/18
专利代理人-
代理机构-
文献类型专利
条目标识符http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/81548
专题半导体激光器专利数据库
作者单位MITSUBISHI ELECTRIC CORP
推荐引用方式
GB/T 7714
YAGI TETSUYA. Semiconductor laser. JP1988263790A[P]. 1988-10-31.
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