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Vapor growth method
其他题名Vapor growth method
NISHIBE TORU; IWAMOTO MASAMI; KINOSHITA JUNICHI
1986-08-12
专利权人KOGYO GIJUTSUIN
公开日期1986-08-12
授权国家日本
专利类型发明申请
摘要PURPOSE:To enable the epitaxial growth of an InP layer without the deformation of a diffraction grating by growing the thin InP layer which is grown to the extent of burying the diffraction grating at a temperature which does not deform the diffraction grating again raising the temperature under the conditions being well controlled. CONSTITUTION:In a vapor growth method of growing an InP layer on a GaInAsP layer which has a diffraction grating, while a wafer of the GaInAsP layer is raised to a growth temperature, the wafer is held in the atmosphere of hydrogen at a temperature of 400-500[ deg.C] in which the diffraction grating is not thermally deformed and the InP layer can be deposited on the diffraction grating and then the first InP layer which has the film thickness required for burying at least the diffraction grating is epitaxially grown at the same temperature in which the wafer is held. Then, the second InP layer is epitaxially grown raising the temperature of the wafer higher than the above-mentioned growth temperature.
其他摘要目的:通过生长薄的InP层来实现InP层的外延生长而不会使衍射光栅变形,该InP层生长到在不使衍射光栅变形的温度下再次升高温度下的衍射光栅的程度。条件得到很好的控制。组成:在具有衍射光栅的GaInAsP层上生长InP层的气相生长方法中,当GaInAsP层的晶片升高到生长温度时,晶片被保持在温度为400的氢气氛中。 -500℃,其中衍射光栅不会热变形,并且InP层可以沉积在衍射光栅上,然后具有至少掩埋衍射光栅所需的膜厚度的第一InP层外延生长在与晶片保持相同的温度。然后,外延生长第二InP层,使晶片的温度高于上述生长温度。
申请日期1985-02-04
专利号JP1986179525A
专利状态失效
申请号JP1985018743
公开(公告)号JP1986179525A
IPC 分类号H01L21/205 | H01S5/00 | H01S3/18
专利代理人-
代理机构-
文献类型专利
条目标识符http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/81125
专题半导体激光器专利数据库
作者单位KOGYO GIJUTSUIN
推荐引用方式
GB/T 7714
NISHIBE TORU,IWAMOTO MASAMI,KINOSHITA JUNICHI. Vapor growth method. JP1986179525A[P]. 1986-08-12.
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