Manufacture of semiconductor laser

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	Manufacture of semiconductor laser
其他题名	Manufacture of semiconductor laser
	KAGAWA HITOSHI; HATTORI AKIRA
	1989-07-20
专利权人	MITSUBISHI ELECTRIC CORP
公开日期	1989-07-20
授权国家	日本
专利类型	发明申请
摘要	PURPOSE:To form a window layer having a high quality in a simple process in a wafer state by continuously forming a first conductivity type first clad layer, an active layer, a second conductivity type second clad layer and a high resistance value window layer on a first conductivity type substrate in the same device. CONSTITUTION:A molecular beam 11 is radiated by a mask jig 12, and a first clad layer 2, an active layer 3 and a second clad layer 4 are selectively grown in a band state on a substrate Then, after a window layer 5 is grown by a mask jig 13, a current block layer 6 is grown on the whole face of the wafer by removing the jig 13. After the above process is all continuously conducted in the same crystal growing device, a current narrowing groove 10 is formed by etching in a resonator direction, and a contact layer is grown by a crystal growing method, such as LPE method or the like. Thus, a boundary between the layer 5 and an active unit is not contaminated in a forming step, a window layer having crystal of high quality can be formed in a wafer state, and the process is simplified.
其他摘要	用途：通过连续形成第一导电类型第一包层，有源层，第二导电类型第二包层和高电阻值窗口层，在晶片状态的简单工艺中形成具有高质量的窗口层第一导电类型基板在同一装置中。组成：分子束11由掩模夹具12辐射，第一覆层2，有源层3和第二覆层4在带状态下选择性地生长在基板1上。然后，在窗口层5之后通过掩模夹具13生长电流阻挡层6，通过移除夹具13在晶片的整个面上生长电流阻挡层6.在上述工艺全部在同一晶体生长装置中连续进行之后，形成电流窄化槽10通过在谐振器方向上蚀刻，通过诸如LPE方法等的晶体生长方法生长接触层。因此，在形成步骤中层5和有源单元之间的边界不被污染，可以在晶片状态下形成具有高质量晶体的窗口层，并且简化了工艺。
申请日期	1988-01-14
专利号	JP1989183185A
专利状态	失效
申请号	JP1988007304
公开（公告）号	JP1989183185A
IPC 分类号	H01S5/00 \| H01S3/18
专利代理人	-
代理机构	-
文献类型	专利
条目标识符	http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/80326
专题	半导体激光器专利数据库
作者单位	MITSUBISHI ELECTRIC CORP
推荐引用方式 GB/T 7714	KAGAWA HITOSHI,HATTORI AKIRA. Manufacture of semiconductor laser. JP1989183185A[P]. 1989-07-20.

条目包含的文件
文件名称/大小	文献类型	版本类型	开放类型	使用许可
JP1989183185A.PDF（129KB）	专利		开放获取	CC BY-NC-SA	请求全文