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Semiconductor device and method of manufacturing the same
其他题名Semiconductor device and method of manufacturing the same
KASHIMA, YASUMASA; MUNAKATA, TSUTOMU
2003-05-27
专利权人OKI SEMICONDUCTOR CO., LTD.
公开日期2003-05-27
授权国家美国
专利类型授权发明
摘要A semiconductor device includes a substrate formed of a group III element and a group V element, a buffer layer having a thickness of at least 0.5 mum covering an the entire main surface of the substrate, and a selective-area growth layer grown selectively on the buffer layer. The buffer layer includes both the group III element and the group V element. The buffer layer is formed by metalorganic vapor-phase epitaxy.
其他摘要一种半导体器件,包括由III族元素和V族元素形成的衬底,覆盖衬底的整个主表面的厚度至少为0.5μm的缓冲层,以及选择性地生长在衬底上的选择性区域生长层。缓冲层。缓冲层包括III族元素和V族元素。缓冲层由金属有机气相外延形成。
申请日期1999-12-07
专利号US6570189
专利状态失效
申请号US09/454609
公开(公告)号US6570189
IPC 分类号H01L33/00 | H01S5/227 | H01S5/00 | H01L21/205 | H01L33/06 | H01L33/12 | H01L33/14 | H01L33/30
专利代理人-
代理机构MIMURA, JUNICHI
文献类型专利
条目标识符http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/77489
专题半导体激光器专利数据库
作者单位OKI SEMICONDUCTOR CO., LTD.
推荐引用方式
GB/T 7714
KASHIMA, YASUMASA,MUNAKATA, TSUTOMU. Semiconductor device and method of manufacturing the same. US6570189[P]. 2003-05-27.
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