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其他题名-
FUKUNAGA TOSHIAKI; KOBAYASHI KEISUKE; NAKAJIMA HISAO; SEMURA SHIGERU; UCHIDA YOKO; OOTA TSUNEAKI; KURODA TAKARO; NARISAWA TADASHI; YOKOZUKA TATSUO
1989-10-23
专利权人KOGYO GIJUTSUIN
公开日期1989-10-23
授权国家日本
专利类型授权发明
摘要PURPOSE:To simplify the production process, make the contact of electrodes easy, and reduce the leak current, by forming a current constriction layer and a refraction index wave guide layer in the inside by Si implantation with high energy. CONSTITUTION:On the (001) face of the N-type GaAs substrate 1b, the following layers are laminated; the N-type GaAs buffer layer 2b, the N-type AlxGa1-xAs/ GaAsMQW buffer layer 3b, the N-type AlzGa1-zAs/AlwGa1-wAsMQW active layer 6, the P-type AlyGa1-yAs photo guide layer 7b, the P-type AlxGa1-xAs clad layer 8b and the cap layer 14. On the surface of this element, the metal mask is formed leaving the stripe in the (110) direction, and the Si ion with high energy is implanted to form the current constriction region 10. The P-type GaAs contact layer 9b is grown by epitaxy, when the MQW structure of the active layer 6 gives way to become the uniform mixed crystal, and the portion of low refraction index is formed in the oscillation region. Then, the P-side electrode layer 13 and the N-side electrode layer 12 are formed.
其他摘要目的:为了简化生产过程,通过高能量Si注入在内部形成电流收缩层和折射率波导层,使电极接触容易,并减少漏电流。组成:在N型GaAs衬底1b的(001)面上,层压下列层; N型GaAs缓冲层2b,N型Al x Ga 1-x As / GaAsMQW缓冲层3b,N型AlzGa1-zAs / AlwGa1-wAsMQW有源层6,P型AlyGa1-yAs光导层7b, P型Al x Ga 1-x As包覆层8b和覆盖层14.在该元件的表面上,形成金属掩模,在(110)方向上留下条纹,并且注入具有高能量的Si离子以形成电流当有源层6的MQW结构让位成为均匀的混晶时,P型GaAs接触层9b通过外延生长,并且在振荡区域中形成低折射率部分。然后,形成P侧电极层13和N侧电极层12。
申请日期1985-04-12
专利号JP1989049030B2
专利状态失效
申请号JP1985076677
公开(公告)号JP1989049030B2
IPC 分类号H01L21/265 | H01L21/205 | H01S5/00
专利代理人-
代理机构-
文献类型专利
条目标识符http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/76822
专题半导体激光器专利数据库
作者单位KOGYO GIJUTSUIN
推荐引用方式
GB/T 7714
FUKUNAGA TOSHIAKI,KOBAYASHI KEISUKE,NAKAJIMA HISAO,et al. -. JP1989049030B2[P]. 1989-10-23.
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