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半導体レーザ
其他题名半導体レーザ
玄永 康一; 田中 明; 奥田 肇; 島田 直弘; 伊藤 義行; 塩澤 秀夫; 渡邊 実
2000-12-08
专利权人TOSHIBA CORP
公开日期2000-12-08
授权国家日本
专利类型发明申请
摘要【課題】電流阻止層の開口部に形成される埋込み層の、高次の結晶面方位方向の異常成長のない半導体レーザを提供することを目的とする。 【解決手段】InGaAlP系半導体レーザにおいて、ストライプ状の開口部を有する電流阻止層8と、電流阻止層8上に形成されたp型埋め込み層9とを具備し、電流阻止層8の層厚は0.1〜0.5μmであることを特徴とする。
其他摘要提供在电流阻挡层的开口部分中形成的掩埋层的高阶晶面取向方向上没有异常生长的半导体激光器。 在InGaAlP半导体激光器中提供具有条形开口和形成在电流阻挡层上的p型掩埋层的电流阻挡层,并且电流阻挡层的层厚度为并且是0.1至0.5μm。
申请日期1999-05-27
专利号JP2000340885A
专利状态失效
申请号JP1999147427
公开(公告)号JP2000340885A
IPC 分类号H01S5/00 | H01S5/223
专利代理人外川 英明
代理机构-
文献类型专利
条目标识符http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/76122
专题半导体激光器专利数据库
作者单位TOSHIBA CORP
推荐引用方式
GB/T 7714
玄永 康一,田中 明,奥田 肇,等. 半導体レーザ. JP2000340885A[P]. 2000-12-08.
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JP2000340885A.PDF(86KB)专利 开放获取CC BY-NC-SA请求全文
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