Xi'an Institute of Optics and Precision Mechanics,CAS
| 光拾取装置 | |
| 其他题名 | 光拾取装置 |
| 茂木武都; 高桥真一; 菅野光俊; 石井耕; 川村诚; 势田吉宏 | |
| 2004-10-13 | |
| 专利权人 | 日本先锋公司 |
| 公开日期 | 2004-10-13 |
| 授权国家 | 中国 |
| 专利类型 | 授权发明 |
| 摘要 | 反射镜14相对于物镜16倾斜并放置在一定位置，用于检测的光电转换元件15放置在反射镜14的背侧。反射镜14的结构中，具有预定反射率和透射率的半透膜HM形成在透明介质的衬底的一个表面上。当进行信息记录或信息再现的激光束从半导体激光器2a，3发射出并射向反射镜14时，半透膜HM将激光束分成反射光束和透射光束，反射光束射向物镜16一侧，而透射光束射向光电转换元件15一侧。结果，进行信息记录和信息再现的任何激光束可由光电转换元件15探测，以便进行半导体激光器2a，3的APC控制，针对信息记录介质进行信息记录和信息再现的激光束的光强可得到适当的控制。 |
| 其他摘要 | 反射镜14相对于物镜16倾斜并放置在一定位置，用于检测的光电转换元件15放置在反射镜14的背侧。反射镜14的结构中，具有预定反射率和透射率的半透膜HM形成在透明介质的衬底的一个表面上。当进行信息记录或信息再现的激光束从半导体激光器2a，3发射出并射向反射镜14时，半透膜HM将激光束分成反射光束和透射光束，反射光束射向物镜16一侧，而透射光束射向光电转换元件15一侧。结果，进行信息记录和信息再现的任何激光束可由光电转换元件15探测，以便进行半导体激光器2a，3的APC控制，针对信息记录介质进行信息记录和信息再现的激光束的光强可得到适当的控制。 |
| 申请日期 | 2001-09-25 |
| 专利号 | CN1171209C |
| 专利状态 | 失效 |
| 申请号 | CN01140866.9 |
| 公开（公告）号 | CN1171209C |
| IPC 分类号 | G02B5/08 | G11B7/00 | G11B7/125 | G11B7/126 | G11B7/127 | G11B7/13 | G11B7/135 | G11B7/1356 | G11B7/1362 |
| 专利代理人 | 李晓舒 | 魏晓刚 |
| 代理机构 | 北京市柳沈律师事务所 |
| 文献类型 | 专利 |
| 条目标识符 | http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/75080 |
| 专题 | 半导体激光器专利数据库 |
| 作者单位 | 日本先锋公司 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 茂木武都,高桥真一,菅野光俊,等. 光拾取装置. CN1171209C[P]. 2004-10-13. |
| 条目包含的文件 | ||||||
| 文件名称/大小 | 文献类型 | 版本类型 | 开放类型 | 使用许可 | ||
| CN1171209C.PDF（995KB） | 专利 | 开放获取 | CC BY-NC-SA | 请求全文 | ||
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