Xi'an Institute of Optics and Precision Mechanics,CAS
半導体光素子特性評価装置 | |
其他题名 | 半導体光素子特性評価装置 |
曲 克明; 須崎 泰正; 小川 育生; 伊藤 敏夫; 石原 昇 | |
2002-02-20 | |
专利权人 | NIPPON TELEGR & TELEPH CORP |
公开日期 | 2002-02-20 |
授权国家 | 日本 |
专利类型 | 发明申请 |
摘要 | 【課題】 半導体光増幅器の評価測定の効率向上を図る。 【解決手段】 一端に光ファイバ45a〜45dが接続された平面型光導波路44a〜44dの他端を、評価対象である半導体光増幅器1の導波路6、7と接続して光結合回路41a、41bを構成し、半導体光増幅器1に光を通して光パワーメータ30により測定することによって半導体光増幅器1の評価を行う。 |
其他摘要 | 要解决的问题:提高半导体光放大器的评估和测量效率。解决方案:通过将具有连接到其一端侧的光纤45a至454d的平面光波导44a至44d的另一端侧连接至半导体光放大器1的波导6和7,构成光耦合电路41a和41b。通过半导体放大器1评估光并通过光功率计30测量光,以评估半导体光放大器1。 |
主权项 | - |
申请日期 | 2000-08-08 |
专利号 | JP2002055022A |
专利状态 | 失效 |
申请号 | JP2000239554 |
公开(公告)号 | JP2002055022A |
IPC 分类号 | G02B6/42 | G01M11/00 | G02B6/122 | H01S5/00 |
专利代理人 | 光石 俊郎 (外2名) |
代理机构 | - |
文献类型 | 专利 |
条目标识符 | http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/67226 |
专题 | 半导体激光器专利数据库 |
作者单位 | NIPPON TELEGR & TELEPH CORP |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 曲 克明,須崎 泰正,小川 育生,等. 半導体光素子特性評価装置. JP2002055022A[P]. 2002-02-20. |
条目包含的文件 | ||||||
文件名称/大小 | 文献类型 | 版本类型 | 开放类型 | 使用许可 | ||
JP2002055022A.PDF(156KB) | 专利 | 开放获取 | CC BY-NC-SA | 请求全文 |
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