OPT OpenIR  > 半导体激光器专利数据库
用于外延剥离的多个堆栈沉积
其他题名用于外延剥离的多个堆栈沉积
何甘; 安德瑞斯・海吉杜斯
2011-12-28
专利权人奥塔装置公司
公开日期2011-12-28
授权国家中国
专利类型发明申请
摘要本发明的实施例提供一种含有布置于衬底上的多个磊晶堆栈的薄膜堆栈,及一种用于形成此薄膜堆栈的方法。在一实施例中,该外延堆栈含有布置于该衬底上的第一牺牲层、布置于该第一牺牲层上的第一外延膜、布置于该第一外延膜上的第二牺牲层,及布置于该第二牺牲层上的第二外延膜。该薄膜堆栈可进一步含有布置于牺牲层上的额外的外延膜。通常,所述外延膜含有砷化镓合金,且所述牺牲层含有砷化铝合金。方法提供通过在外延剥离(ELO)过程期间蚀刻掉所述牺牲层而自该衬底移除所述外延膜。所述外延膜可用作光伏电池、激光二极管,或其它器件或材料。
其他摘要本发明的实施例提供一种含有布置于衬底上的多个磊晶堆栈的薄膜堆栈,及一种用于形成此薄膜堆栈的方法。在一实施例中,该外延堆栈含有布置于该衬底上的第一牺牲层、布置于该第一牺牲层上的第一外延膜、布置于该第一外延膜上的第二牺牲层,及布置于该第二牺牲层上的第二外延膜。该薄膜堆栈可进一步含有布置于牺牲层上的额外的外延膜。通常,所述外延膜含有砷化镓合金,且所述牺牲层含有砷化铝合金。方法提供通过在外延剥离(ELO)过程期间蚀刻掉所述牺牲层而自该衬底移除所述外延膜。所述外延膜可用作光伏电池、激光二极管,或其它器件或材料。
主权项一种布置于衬底表面上的薄膜堆栈,包含: 第一牺牲层,其布置于衬底上; 第一外延膜,其布置于所述第一牺牲层上; 第二牺牲层,其布置于所述第一外延膜上;及 第二外延膜,其布置于所述第二牺牲层上。
申请日期2009-12-07
专利号CN102301450A
专利状态失效
申请号CN200980155968.9
公开(公告)号CN102301450A
IPC 分类号H01L21/20 | H01L21/306
专利代理人周靖 | 郑霞
代理机构北京安信方达知识产权代理有限公司
文献类型专利
条目标识符http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/66383
专题半导体激光器专利数据库
作者单位奥塔装置公司
推荐引用方式
GB/T 7714
何甘,安德瑞斯・海吉杜斯. 用于外延剥离的多个堆栈沉积. CN102301450A[P]. 2011-12-28.
条目包含的文件
文件名称/大小 文献类型 版本类型 开放类型 使用许可
CN102301450A.PDF(1392KB)专利 开放获取CC BY-NC-SA请求全文
个性服务
推荐该条目
保存到收藏夹
查看访问统计
导出为Endnote文件
谷歌学术
谷歌学术中相似的文章
[何甘]的文章
[安德瑞斯・海吉杜斯]的文章
百度学术
百度学术中相似的文章
[何甘]的文章
[安德瑞斯・海吉杜斯]的文章
必应学术
必应学术中相似的文章
[何甘]的文章
[安德瑞斯・海吉杜斯]的文章
相关权益政策
暂无数据
收藏/分享
所有评论 (0)
暂无评论
 

除非特别说明,本系统中所有内容都受版权保护,并保留所有权利。