基于光栅投影的三维内窥测量装置和方法

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	基于光栅投影的三维内窥测量装置和方法
其他题名	基于光栅投影的三维内窥测量装置和方法
	周常河; 王晓鑫; 张军; 谢金; 贾伟
	2008-09-17
专利权人	中国科学院上海光学精密机械研究所
公开日期	2008-09-17
授权国家	中国
专利类型	发明申请
摘要	一种基于光栅投影的三维内窥测量装置和方法，该装置是由光纤导像束、振幅型透射光栅、准直透镜、半导体激光器光源、微型面阵CCD探测器、传输线、图像采集卡和计算机构成，所述的计算机具有相应的图像处理和三维形貌计算重构软件。本发明方法的核心是在内窥观测中将振幅型透射光栅投影到待测表面上，光栅条纹受待测表面调制产生形变，通过CCD成像系统采集形变的光栅条纹，经过计算机图像处理，再通过三维形貌重建算法，获得待测目标的三维形貌信息。本发明能够获得内窥对象的三维形貌信息，并具有测量速度快、测量精度较和方法简单的特点。
其他摘要	一种基于光栅投影的三维内窥测量装置和方法，该装置是由光纤导像束、振幅型透射光栅、准直透镜、半导体激光器光源、微型面阵CCD探测器、传输线、图像采集卡和计算机构成，所述的计算机具有相应的图像处理和三维形貌计算重构软件。本发明方法的核心是在内窥观测中将振幅型透射光栅投影到待测表面上，光栅条纹受待测表面调制产生形变，通过CCD成像系统采集形变的光栅条纹，经过计算机图像处理，再通过三维形貌重建算法，获得待测目标的三维形貌信息。本发明能够获得内窥对象的三维形貌信息，并具有测量速度快、测量精度较和方法简单的特点。
主权项	一种基于光栅投影的三维内窥测量装置，其特征在于由光纤导像束(2)、振幅型透射光栅(3)、准直透镜(4)、半导体激光器光源(5)、微型面阵CCD探测器(6)、传输线(7)、图像采集卡(8)和计算机(9)构成，各部件的连接关系是：所述的半导体激光器光源(5)发出的激光依次经准直透镜(4)、振幅型透射光栅(3)和光纤导像束(2)照射在待测物体表面，由微型面阵CCD探测器(6)拍摄被待测物体表面三维形貌所调制的振幅型透射光栅的投影条纹后经传输线(7)、图像采集卡(8)进入计算机(9)，所述的计算机(9)具有相应的图像处理和三维形貌计算重构软件。
申请日期	2008-05-06
专利号	CN101264002A
专利状态	失效
申请号	CN200810037012.6
公开（公告）号	CN101264002A
IPC 分类号	A61B1/06 \| G06T7/00
专利代理人	张泽纯
代理机构	上海新天专利代理有限公司
文献类型	专利
条目标识符	http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/63861
专题	半导体激光器专利数据库
作者单位	中国科学院上海光学精密机械研究所
推荐引用方式 GB/T 7714	周常河,王晓鑫,张军,等. 基于光栅投影的三维内窥测量装置和方法. CN101264002A[P]. 2008-09-17.

条目包含的文件
文件名称/大小	文献类型	版本类型	开放类型	使用许可
CN101264002A.PDF（482KB）	专利		开放获取	CC BY-NC-SA	请求全文