玻璃器壁的光学和几何参数测量装置及其测量方法

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	玻璃器壁的光学和几何参数测量装置及其测量方法
其他题名	玻璃器壁的光学和几何参数测量装置及其测量方法
	张宗权; 苗润才; 姚志; 王文成; 刘志存; 鲁百佐; 杨宗立; 辛经纬; 杜毅鹏; 崔永贞; 刘雅琳
	2014-05-14
专利权人	陕西师范大学
公开日期	2014-05-14
授权国家	中国
专利类型	发明申请
摘要	一种玻璃器壁的光学和几何参数测量装置，在支架上一侧设置待测量圆柱状玻璃容器、另一侧设上半导体激光器和下半导体激光器，在待测量圆柱状玻璃容器器壁外表面局部设一层白色油漆或白色玻璃油墨构成的光散射成像层。测量方法为：在待测量圆柱状玻璃容器中充入已知折射率的透明液体，上半导体激光器和下半导体激光器射出的激光束通过光散射成像层发生散射，散射光进入玻璃容器与容器内介质的界面时产生全反射，在光散射成像层上形成大椭圆暗斑和小椭圆暗斑，根据折射率和壁厚与小椭圆形暗斑长轴长度和大椭圆形暗斑长轴长度之间的关系，计算出待测玻璃器壁的光学和几何参数。本发明具有结构和方法简单、测量速度快、精度高、且易于实施等优点。
其他摘要	一种玻璃器壁的光学和几何参数测量装置，在支架上一侧设置待测量圆柱状玻璃容器、另一侧设上半导体激光器和下半导体激光器，在待测量圆柱状玻璃容器器壁外表面局部设一层白色油漆或白色玻璃油墨构成的光散射成像层。测量方法为：在待测量圆柱状玻璃容器中充入已知折射率的透明液体，上半导体激光器和下半导体激光器射出的激光束通过光散射成像层发生散射，散射光进入玻璃容器与容器内介质的界面时产生全反射，在光散射成像层上形成大椭圆暗斑和小椭圆暗斑，根据折射率和壁厚与小椭圆形暗斑长轴长度和大椭圆形暗斑长轴长度之间的关系，计算出待测玻璃器壁的光学和几何参数。本发明具有结构和方法简单、测量速度快、精度高、且易于实施等优点。
主权项	一种玻璃器壁的光学和几何参数测量装置，其特征在于：在支架（4）上一侧设置待测量圆柱状玻璃容器（5）、另一侧设置上半导体激光器（2）和下半导体激光器（3），在待测量圆柱状玻璃容器（5）器壁外表面局部设置一层白色油漆或白色玻璃油墨构成的光散射成像层（1）。
申请日期	2014-02-28
专利号	CN103792208A
专利状态	授权
申请号	CN201410070026.3
公开（公告）号	CN103792208A
IPC 分类号	G01N21/41 \| G01B11/06
专利代理人	申忠才
代理机构	西安永生专利代理有限责任公司
文献类型	专利
条目标识符	http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/63634
专题	半导体激光器专利数据库
作者单位	陕西师范大学
推荐引用方式 GB/T 7714	张宗权,苗润才,姚志,等. 玻璃器壁的光学和几何参数测量装置及其测量方法. CN103792208A[P]. 2014-05-14.

条目包含的文件
文件名称/大小	文献类型	版本类型	开放类型	使用许可
CN103792208A.PDF（519KB）	专利		开放获取	CC BY-NC-SA	请求全文