Xi'an Institute of Optics and Precision Mechanics,CAS
| 光学装置及び情報処理システム | |
| 其他题名 | 光学装置及び情報処理システム |
| 藤井 俊茂 | |
| 2016-12-01 | |
| 专利权人 | RICOH CO LTD |
| 公开日期 | 2016-12-01 |
| 授权国家 | 日本 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 摘要 | 【課題】試料の種別又は状態を非侵襲的に測定させることが可能な光学装置及び情報処理システムを提供する。 【解決手段】所定の偏光方向の直線偏光を試料に向けて射出する照射系10と、直線偏光が試料に入射することによって生じる散乱光を検出する光検出系30-1〜30-3と、を備え、照射系10は、直線偏光を射出するVCSEL11を含み、光検出系30-1〜30-3は、互いに異なる散乱角方向の光路上に配され、散乱光の直線偏光成分を予め定められた角度で通過させる偏光フィルタ31-1〜31-3と、当該偏光フィルタ31-1〜31-3を通過した光を受光する受光器35-1〜35-3とを、含む。 【選択図】図1 |
| 其他摘要 | 要解决的问题：提供能够无创地测量样品类型或状态的光学装置和信息处理系统。 一种照射系统，用于向样品发射具有预定偏振方向的线性偏振光，用于检测由线性偏振光入射到样品上的散射光的光检测系统，照射系统10具有射出直线偏振光的VCSEL11，光检测系统30-1〜30-3以相互不同的散射角度方向配置在光路上，用于使散射光的线性偏振光分量以预定角度通过的偏振滤光器31-1至31-3，以及用于接收通过偏振滤光器31-1至31-3的光的光接收器35-1至35-1。和-3，包括。 |
| 主权项 | - |
| 申请日期 | 2015-04-08 |
| 专利号 | JP2016200458A |
| 专利状态 | 失效 |
| 申请号 | JP2015079453 |
| 公开（公告）号 | JP2016200458A |
| IPC 分类号 | G01N21/47 | G01N21/21 | G01N15/00 | C12M1/34 |
| 专利代理人 | 酒井 宏明 |
| 代理机构 | - |
| 文献类型 | 专利 |
| 条目标识符 | http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/63503 |
| 专题 | 半导体激光器专利数据库 |
| 作者单位 | RICOH CO LTD |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 藤井 俊茂. 光学装置及び情報処理システム. JP2016200458A[P]. 2016-12-01. |
| 条目包含的文件 | ||||||
| 文件名称/大小 | 文献类型 | 版本类型 | 开放类型 | 使用许可 | ||
| JP2016200458A.PDF（284KB） | 专利 | 开放获取 | CC BY-NC-SA | 请求全文 | ||
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