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绿光调阻的聚焦透镜非线性像差校正的控制系统和方法
其他题名绿光调阻的聚焦透镜非线性像差校正的控制系统和方法
孙继凤; 刘立峰; 王忠生; 汤建华; 田兴志
2010-06-02
专利权人中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
公开日期2010-06-02
授权国家中国
专利类型发明申请
摘要绿光调阻的聚焦透镜非线性像差校正的控制系统和方法,本发明属于半导体器件的激光精细加工领域,涉及绿色半导体激光器输出的脉冲激光束经过Fθ聚焦透镜时,产生非线性像差的补偿控制技术。控制系统由光刻控制器、激光器、扫描振镜、聚焦透镜、工作台等。各单元的连接关系:激光器输出光送给扫描振镜,光刻控制器控制激光器输出绿色激光和扫描振镜的偏转角,经偏转后的激光再传送给聚焦透镜,激光经过聚焦透镜后聚焦于工作台面上。本发明的优点是,采用非线性像差补偿校正算法,根据非线性畸变量控制双振镜扫描角度,补偿Fθ聚焦透镜造成的非线性像差,解决了激光调阻中因透镜像差造成的光刻定位不准的问题,实现了小尺寸片阻的光刻精确定位控制。
其他摘要绿光调阻的聚焦透镜非线性像差校正的控制系统和方法,本发明属于半导体器件的激光精细加工领域,涉及绿色半导体激光器输出的脉冲激光束经过Fθ聚焦透镜时,产生非线性像差的补偿控制技术。控制系统由光刻控制器、激光器、扫描振镜、聚焦透镜、工作台等。各单元的连接关系:激光器输出光送给扫描振镜,光刻控制器控制激光器输出绿色激光和扫描振镜的偏转角,经偏转后的激光再传送给聚焦透镜,激光经过聚焦透镜后聚焦于工作台面上。本发明的优点是,采用非线性像差补偿校正算法,根据非线性畸变量控制双振镜扫描角度,补偿Fθ聚焦透镜造成的非线性像差,解决了激光调阻中因透镜像差造成的光刻定位不准的问题,实现了小尺寸片阻的光刻精确定位控制。
主权项绿光调阻的聚焦透镜非线性像差校正的控制系统,其特征在于该控制系统包括光刻控制器(1)、激光器(2)、扫描振镜(3)、聚焦透镜(4)、工作台(5); 各单元的连接关系:激光器(2)输出光送给扫描振镜(3),光刻控制器(1)控制激光器输出绿色激光和扫描振镜(3)的偏转角,经偏转后的激光再传送给聚焦透镜(4),激光经过聚焦透镜(4)后聚焦于工作台(5)上。 所述光刻控制器(1)是该控制系统的核心处理器件,它既能控制激光器的频率、功率、出光、停光,还能控制扫描振镜转角进行激光定位,此外,还完成非线性像差数据的采集、计算、校正; 所述激光器(2)输出绿色激光,是激光光源; 所述扫描振镜(3)受控于光刻控制器(1),对绿色激光进行快速精确定位; 所述聚焦透镜(4)将绿色激光聚焦为高能量密度光斑,用于刻蚀被调电阻材料; 所述工作台(5)是激光刻蚀片式电阻的工作平面,是片式电阻的载体。
申请日期2009-11-24
专利号CN101718958A
专利状态失效
申请号CN200910217899.1
公开(公告)号CN101718958A
IPC 分类号G03F7/20
专利代理人王立伟
代理机构长春菁华专利商标代理事务所
文献类型专利
条目标识符http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/63390
专题半导体激光器专利数据库
作者单位中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
推荐引用方式
GB/T 7714
孙继凤,刘立峰,王忠生,等. 绿光调阻的聚焦透镜非线性像差校正的控制系统和方法. CN101718958A[P]. 2010-06-02.
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