Xi'an Institute of Optics and Precision Mechanics,CAS
| 微镜检测方法及其检测装置 | |
| 其他题名 | 微镜检测方法及其检测装置 |
| 郭建峰 | |
| 2005-01-26 | |
| 专利权人 | 明基电通股份有限公司 |
| 公开日期 | 2005-01-26 |
| 授权国家 | 中国 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 摘要 | 本发明提供一种微镜检测方法，包括下述步骤，先将微镜组件设于承座的微镜承靠面。再利用光源朝向微镜组件射出光束。光束从微镜组件反射至靶面，并在该靶面上投射出一第二光点。测量该第二光点相对于基准点的距离X，并由此计算微镜组件于承座上的倾斜度。 |
| 其他摘要 | 本发明提供一种微镜检测方法，包括下述步骤，先将微镜组件设于承座的微镜承靠面。再利用光源朝向微镜组件射出光束。光束从微镜组件反射至靶面，并在该靶面上投射出一第二光点。测量该第二光点相对于基准点的距离X，并由此计算微镜组件于承座上的倾斜度。 |
| 主权项 | 一种微镜检测装置，用于检测一微镜组件于一承座上的倾斜度，包括： 一靶面；以及 一光源，该光源朝向该微镜组件射出一光束，该光束从该微镜组件反射至该靶面。 |
| 申请日期 | 2003-07-15 |
| 专利号 | CN1570555A |
| 专利状态 | 失效 |
| 申请号 | CN03147629.5 |
| 公开（公告）号 | CN1570555A |
| IPC 分类号 | G01B11/27 | H01S5/00 |
| 专利代理人 | 陈小雯 | 李晓舒 |
| 代理机构 | 北京市柳沈律师事务所 |
| 文献类型 | 专利 |
| 条目标识符 | http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/62710 |
| 专题 | 半导体激光器专利数据库 |
| 作者单位 | 明基电通股份有限公司 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 郭建峰. 微镜检测方法及其检测装置. CN1570555A[P]. 2005-01-26. |
| 条目包含的文件 | ||||||
| 文件名称/大小 | 文献类型 | 版本类型 | 开放类型 | 使用许可 | ||
| CN1570555A.PDF（410KB） | 专利 | 开放获取 | CC BY-NC-SA | 请求全文 | ||
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