Xi'an Institute of Optics and Precision Mechanics,CAS
| 光増幅利得測定装置 | |
| 其他题名 | 光増幅利得測定装置 |
| 曲 克明; 伊藤 敏夫; 赤津 祐史; 吉國 裕三 | |
| 2000-03-03 | |
| 专利权人 | NIPPON TELEGR & TELEPH CORP |
| 公开日期 | 2000-03-03 |
| 授权国家 | 日本 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 摘要 | 【課題】 偏波依存性とともにTEモードとTMモードのいずれの利得が大きいかを測定可能な光増幅利得測定装置を提供すること。 【解決手段】 光源21から発せられた広い波長帯域を有しかつ所定の直線偏波面Aを持つ光を、偏光素子22で被測定試料SのTEモードと一致した直線偏波面Bを持つ光に偏向させ、1/2波長板23の抜き差しに応じてTEモード及びTMモードに調整して被測定試料Sに入射させ、その出射光を光スペクトラムアナライザ24にて波長分光測定させることにより、TEモードとTMモードのいずれの利得が大きいかを測定可能とするとともに、偏波依存性を測定可能とする。 |
| 其他摘要 | 要解决的问题：为了测量它，可以测量TE模式的增益或待测样品的TM模式，以及样品的偏振依赖性。解决方案：该测量装置将具有从光源21发射的具有宽波长带并且具有规定的线性偏振平面A的光偏转成具有与样本的TE模式一致的模式的线性偏振的平面B的光。通过偏振元件22测量S，根据1/2波长常数23的取入或取出，将平面B的模式调整为TE模式和样本S的TM模式，以使光入射样品S和采样发射光通过光谱分析仪24进行波长光谱测量，从而可以测量TE模式的增益和TM模式更高，同时使其成为可能测量样品S的偏振依赖性。 |
| 主权项 | - |
| 申请日期 | 1998-08-21 |
| 专利号 | JP2000068602A |
| 专利状态 | 失效 |
| 申请号 | JP1998235658 |
| 公开（公告）号 | JP2000068602A |
| IPC 分类号 | H01S5/30 | H01S3/00 | G01M11/00 | H01S5/00 |
| 专利代理人 | 吉田 精孝 |
| 代理机构 | - |
| 文献类型 | 专利 |
| 条目标识符 | http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/62653 |
| 专题 | 半导体激光器专利数据库 |
| 作者单位 | NIPPON TELEGR & TELEPH CORP |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 曲 克明,伊藤 敏夫,赤津 祐史,等. 光増幅利得測定装置. JP2000068602A[P]. 2000-03-03. |
| 条目包含的文件 | ||||||
| 文件名称/大小 | 文献类型 | 版本类型 | 开放类型 | 使用许可 | ||
| JP2000068602A.PDF（60KB） | 专利 | 开放获取 | CC BY-NC-SA | 请求全文 | ||
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