Xi'an Institute of Optics and Precision Mechanics,CAS
Characteristic measuring instrument for semiconductor laser | |
其他题名 | Characteristic measuring instrument for semiconductor laser |
TAKANO YOSHIHIKO | |
1988-10-04 | |
专利权人 | NEC CORP |
公开日期 | 1988-10-04 |
授权国家 | 日本 |
专利类型 | 发明申请 |
摘要 | PURPOSE:To enable radiation-angle to light-intensity to be accurately measured by providing a semiconductor laser driving circuit with an AC power supply in parallel to a DC power supply. CONSTITUTION:An instrument is added with an AC power supply 5 in parallel to a DC power supply Therefore, a driving current is composed of a DC bias superposed thereon with a micro-AC and light from a semiconductor laser 6 is modulated by the AC. On the other hand, a signal detecting circuit on a photodetector 7 side is provided with a capacitor 9 for cutting a DC component and taking out only an AC current and a capacitor 10 for removing the effect of a DC power supply 11 side. A signal is amplified 13 and the AC signal of the photodetector 7 is converted to a DC signal in an AC/DC converting circuit 14 to be inputted to the Y-axis terminal of an X-Y recorder 15. Thus, since only the AC signals due to a photoelectric current are taken out as the output of the photodetector 7 and there exists no DC component due to a dark current, an outputted waveform has sharp radiation-angle to light-intensity. |
其他摘要 | 目的:通过提供一个与直流电源并联的交流电源的半导体激光器驱动电路,使光强度的辐射角能够被精确测量。组成:一台仪器增加了一个与直流电源1并联的交流电源5.因此,驱动电流由叠加在其上的直流偏压和微型交流电组成,来自半导体激光器6的光由半导体激光器6调制。 AC。另一方面,光电探测器7侧的信号检测电路设置有用于切断DC分量并仅取出AC电流的电容器9和用于消除DC电源11侧的影响的电容器10。信号被放大13并且光电检测器7的AC信号在AC / DC转换电路14中被转换成DC信号以输入到XY记录器15的Y轴端子。因此,由于仅有AC信号到期取出光电流作为光电探测器7的输出,并且由于暗电流不存在DC分量,输出的波形对光强度具有尖锐的辐射角。 |
主权项 | - |
申请日期 | 1987-03-26 |
专利号 | JP1988238473A |
专利状态 | 失效 |
申请号 | JP1987073214 |
公开(公告)号 | JP1988238473A |
IPC 分类号 | G01R31/26 | G01M11/00 | H01S5/00 | H01S3/18 |
专利代理人 | - |
代理机构 | - |
文献类型 | 专利 |
条目标识符 | http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/62610 |
专题 | 半导体激光器专利数据库 |
作者单位 | NEC CORP |
推荐引用方式 GB/T 7714 | TAKANO YOSHIHIKO. Characteristic measuring instrument for semiconductor laser. JP1988238473A[P]. 1988-10-04. |
条目包含的文件 | ||||||
文件名称/大小 | 文献类型 | 版本类型 | 开放类型 | 使用许可 | ||
JP1988238473A.PDF(204KB) | 专利 | 开放获取 | CC BY-NC-SA | 请求全文 |
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