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Measuring instrument for semiconductor laser characteristics
其他题名Measuring instrument for semiconductor laser characteristics
SAITO TETSUO; MURASAWA YOSHIHIRO; KUGE TSUKASA
1988-08-12
专利权人CANON INC
公开日期1988-08-12
授权国家日本
专利类型发明申请
摘要PURPOSE:To accurately and easily measure the far field pattern characteristics of a semiconductor laser by positioning the semiconductor laser and a photodetector optically. CONSTITUTION:A measuring instrument capable of measuring the far field pattern characteristics of the laser detects position shifts between semiconductor lasers 1-3 and a photodetector (photosensor) 4. Then the semiconductor lasers 1-3 are positioned by being moved in a 1st or 2nd direction in hetero-junction surfaces of the semiconductor lasers 1-3 relatively to the photosensor 4. Then, while the photosensor 4 rotated around 1st and 2nd directions relatively to the semiconductor lasers 1-3, a rotational angle-light quantity distribution is measured. Data regarding respective measured characteristics are processed properly and statistically together with temperature conditions and outputted on a CRT. Consequently, the far field pattern characteristics of the semiconductor lasers can be measured.
其他摘要目的:通过光学定位半导体激光器和光电探测器,准确,轻松地测量半导体激光器的远场模式特性。组成:一个能够测量激光远场模式特征的测量仪器检测半导体激光器1-3和光电探测器(光电传感器)4之间的位置偏移。然后半导体激光器1-3通过在第一或第二移动定位半导体激光器1-3的异质结表面中的相对于光电传感器4的方向。然后,当光电传感器4相对于半导体激光器1-3绕第一和第二方向旋转时,测量旋转角 - 光量分布。关于各个测量特性的数据与温度条件一起被适当地和统计地处理并且在CRT上输出。因此,可以测量半导体激光器的远场图案特性。
主权项-
申请日期1987-02-10
专利号JP1988195538A
专利状态失效
申请号JP1987027207
公开(公告)号JP1988195538A
IPC 分类号G01J1/00 | G01J1/42 | G01M11/00 | H01S5/00 | H01S3/18
专利代理人-
代理机构-
文献类型专利
条目标识符http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/62608
专题半导体激光器专利数据库
作者单位CANON INC
推荐引用方式
GB/T 7714
SAITO TETSUO,MURASAWA YOSHIHIRO,KUGE TSUKASA. Measuring instrument for semiconductor laser characteristics. JP1988195538A[P]. 1988-08-12.
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