テスト回路およびテスト方法

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	テスト回路およびテスト方法
其他题名	テスト回路およびテスト方法
	黒岩洋佑; 福田秀雄; 山口博史; 茶藤哲夫; 志水雄三; 谷口正記
	2007-11-08
专利权人	松下電器産業株式会社
公开日期	2007-11-08
授权国家	日本
专利类型	发明申请
摘要	【課題】増幅部のテストおよび受光素子間のリーク電流のテストを行う、チップサイズの小さいテスト回路を提供する。【解決手段】本発明に係るテスト回路は、複数の受光素子101〜104と、受光素子101〜104からの光電流をそれぞれ電圧に変換する増幅部111〜114と、受光素子101〜104および増幅部111〜114に電流を供給する電流供給部121および122とを備え、電流供給部121および122は、複数の受光素子101〜104のうち行および列方向に互いに隣接しない複数の受光素子101および103、および、受光素子101および103に行および列方向に隣接する複数の受光素子102および104に対して選択的に電流を供給する。【選択図】図1
其他摘要	要解决的问题：提供一种测试电路，该测试电路执行放大器部件的测试和光接收元件之间的漏电流测试，其中芯片尺寸小。 ŽSOLUTION：测试电路设置有多个光接收元件101至104，放大器部件111至114分别将来自光接收元件101至104的光电流转换为电压，并且电流供应部件121和122向其提供电流。光接收元件101至104和放大器部分111至114，其中电流供应部分121和122选择性地向在行和列方向上彼此不相邻的多个光接收元件101和103提供电流。多个光接收元件101至104和多个光接收元件102和104在行和列方向上与光接收元件101和103相邻。
主权项	-
申请日期	2006-04-26
专利号	JP2007294028A
专利状态	失效
申请号	JP2006121886
公开（公告）号	JP2007294028A
IPC 分类号	G11B7/13 \| H01S5/00 \| H01L \| H01L31/10 \| H01S \| G01R31/28 \| G11B7/22 \| G01R31/316 \| G01R \| G11B
专利代理人	新居広守
代理机构	-
文献类型	专利
条目标识符	http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/61327
专题	半导体激光器专利数据库
作者单位	松下電器産業株式会社
推荐引用方式 GB/T 7714	黒岩洋佑,福田秀雄,山口博史,等. テスト回路およびテスト方法. JP2007294028A[P]. 2007-11-08.

条目包含的文件
文件名称/大小	文献类型	版本类型	开放类型	使用许可
JP2007294028A.PDF（103KB）	专利		开放获取	CC BY-NC-SA	请求全文