Xi'an Institute of Optics and Precision Mechanics,CAS
半導体レーザ素子およびその製造方法、光ディスク装置、光伝送システム | |
其他题名 | 半導体レーザ素子およびその製造方法、光ディスク装置、光伝送システム |
岸本 克彦 | |
2005-12-22 | |
专利权人 | SHARP CORP |
公开日期 | 2005-12-22 |
授权国家 | 日本 |
专利类型 | 发明申请 |
摘要 | 【課題】高い発振効率を有し、低消費電力でかつ高出力動作が可能な半導体レーザ素子とその製造方法を提供する。 【解決手段】 電極115と低濃度半導体層であるp-InGaAsP半導体層111との間の合金層116を介したオーミック接合により低コンタクト抵抗を得る。上記電極115と高濃度半導体層であるp+-GaAsコンタクト層114との間の合金層116を介したショットキー接合により優れた電流狭窄性を得る。上記Niを含む合金層116が、Au原子の半導体層中への拡散を防止する共に、半導体層と電極115との界面の平坦性の悪化を防止して、半導体層111やコンタクト層114および半導体層と電極115との界面での内部散乱や吸収損失をなくす。 【選択図】図1 |
其他摘要 | 要解决的问题:提供具有高振荡效率的半导体激光器元件,能够降低功耗并实现高输出操作,并提供其制造方法。解决方案:通过电极115和低浓度的p-InGaAsP半导体层111之间的合金层116获得欧姆结的低接触电阻。通过肖特基结经由电极115和作为高浓度半导体层的p + / / GaAs-GaAs接触层114之间的合金层116获得优异的电流收缩流。在防止含有Ni的合金层116扩散到半导体层中的同时,通过防止半导体层111或接触层114与电极115之间的界面处的内部分散和吸收损失,消除了内部分散和吸收损失。半导体层和电极115之间的界面平坦度 |
主权项 | - |
申请日期 | 2004-06-08 |
专利号 | JP2005353678A |
专利状态 | 失效 |
申请号 | JP2004170069 |
公开(公告)号 | JP2005353678A |
IPC 分类号 | H01S5/22 | H01S5/042 | G11B7/125 |
专利代理人 | 山崎 宏 | 前田 厚司 | 仲倉 幸典 |
代理机构 | - |
文献类型 | 专利 |
条目标识符 | http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/61098 |
专题 | 半导体激光器专利数据库 |
作者单位 | SHARP CORP |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 岸本 克彦. 半導体レーザ素子およびその製造方法、光ディスク装置、光伝送システム. JP2005353678A[P]. 2005-12-22. |
条目包含的文件 | ||||||
文件名称/大小 | 文献类型 | 版本类型 | 开放类型 | 使用许可 | ||
JP2005353678A.PDF(164KB) | 专利 | 开放获取 | CC BY-NC-SA | 请求全文 |
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