光ファイバ撮像ガイドワイヤ、カテーテルまたは内視鏡を用いて光学測定を行う方法および装置

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	光ファイバ撮像ガイドワイヤ、カテーテルまたは内視鏡を用いて光学測定を行う方法および装置
其他题名	光ファイバ撮像ガイドワイヤ、カテーテルまたは内視鏡を用いて光学測定を行う方法および装置
	ジレルモテアネイ; スティーブンエイ. ボッパート; ブレットイー. バウマ; マークブルジンスキー; エリックエイ. スワンソン; ジェイムズジー. フジモト
	2002-07-31
专利权人	マサチューセッツインスティテュートオブテクノロジー
公开日期	2002-07-31
授权国家	日本
专利类型	发明申请
摘要	【課題】従来の撮像方法および従来技術の制約に関連する問題を克服することを目的とする。高解像度画像を提供し、また、医療処置中に使用して、医療従事者が処置を観察するか、または処置中に処置プロセスの制御をアクティブに補助することを目的とする。【解決手段】本発明の光学撮像システムは、内視鏡ユニットと、光学コヒーレンス断層撮影(OCT)方法を利用して構造体の多次元走査を行う干渉計とを備えている。本発明はOCTを用いて、構造体の高解像度撮像を行う。OCTは、コヒーレンス長が短いかまたは周波数を調整可能な光源を用いて、干渉測定により構造体の光学特性を測定する。
其他摘要	要解决的问题：克服与传统成像方法和传统技术的限制相关的问题，提供高分辨率图像，并使医疗参加者能够在治疗期间观察治疗或协助主动控制治疗过程通过在医疗期间使用。解决方案：该光学成像系统配备有内窥镜单元和用于通过利用光学相干断层扫描（OCT）执行结构的多维扫描的干涉仪。在该系统中，通过使用OCT执行结构的高分辨率成像。在OCT中，通过使用具有短相干长度或可调频率的光源的干涉测量来测量结构的光学特性。
主权项	-
申请日期	1997-02-27
专利号	JP2002214127A
专利状态	失效
申请号	JP2001353884
公开（公告）号	JP2002214127A
IPC 分类号	A61B5/103 \| G01B11/12 \| A61B10/00 \| G01B11/24 \| G01B11/02 \| G02B5/18 \| G11B7/005 \| G01J1/00 \| G01B11/00 \| G01N21/47 \| G01B9/02 \| A61B5/00 \| A61B1/00 \| A61B8/12 \| A61M25/00 \| G11B7/125 \| G02B27/44 \| H01S5/14 \| G01N21/35 \| G01N21/17 \| G11B7/24 \| G11B7/00 \| A61B3/10 \| A61B3/12
专利代理人	山本秀策
代理机构	-
文献类型	专利
条目标识符	http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/60061
专题	半导体激光器专利数据库
作者单位	マサチューセッツインスティテュートオブテクノロジー
推荐引用方式 GB/T 7714	ジレルモテアネイ,スティーブンエイ. ボッパート,ブレットイー. バウマ,等. 光ファイバ撮像ガイドワイヤ、カテーテルまたは内視鏡を用いて光学測定を行う方法および装置. JP2002214127A[P]. 2002-07-31.

条目包含的文件
文件名称/大小	文献类型	版本类型	开放类型	使用许可
JP2002214127A.PDF（137KB）	专利		开放获取	CC BY-NC-SA	请求全文