一种LD激光器组件的装配及检验方法

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	一种LD激光器组件的装配及检验方法
其他题名	一种LD激光器组件的装配及检验方法
	夏焱
	2016-10-12
专利权人	合肥芯碁微电子装备有限公司
公开日期	2016-10-12
授权国家	中国
专利类型	发明申请
摘要	本发明涉及一种LD激光器组件的装配及检验方法，与现有技术相比解决了尚无LD激光器耦合装配方法的缺陷。本发明包括以下步骤：半导体发光二级管的检验；非球面耦合透镜的检验；光纤陶瓷插头的接入；光纤陶瓷插头与光纤交接口的检验。本发明通过分别测试光的初始功率、穿过非球面透镜后功率及透过光纤后的功率，利用光纤套的精密控制实现对光纤的对准调试，通过精密专业焊丝对光阑进行点焊，连接镜筒和光纤套，很大程度的提高了实际耦合效率，同时方法简单易行，可操作性极强。
其他摘要	本发明涉及一种LD激光器组件的装配及检验方法，与现有技术相比解决了尚无LD激光器耦合装配方法的缺陷。本发明包括以下步骤：半导体发光二级管的检验；非球面耦合透镜的检验；光纤陶瓷插头的接入；光纤陶瓷插头与光纤交接口的检验。本发明通过分别测试光的初始功率、穿过非球面透镜后功率及透过光纤后的功率，利用光纤套的精密控制实现对光纤的对准调试，通过精密专业焊丝对光阑进行点焊，连接镜筒和光纤套，很大程度的提高了实际耦合效率，同时方法简单易行，可操作性极强。
主权项	一种LD激光器组件的装配及检验方法，其特征在于，包括以下步骤： 11）半导体发光二级管（1）的检验，在半导体发光二级管（1）的出光端接功率计，打开半导体发光二级管（1），按单点重复测试方法测试半导体发光二级管（1）的初始功率，检验出有误差的半导体发光二级管（1）； 12）非球面耦合透镜（3）的检验，在半导体发光二级管（1）前通过镜筒（2）安装非球面耦合透镜（3），装配成LD组件（13），在非球面耦合透镜（3）的出光端接功率计，打开半导体发光二级管（1），按单点对比方法测试非球面耦合透镜（3）是否存在误差； 13）光纤陶瓷插头（6）的接入，将LD组件（13）和光纤陶瓷插头（6）均安装在三维平台固定架上，将光纤陶瓷插头（6）朝向非球面耦合透镜（3）使得半导体发光二级管（1）、非球面耦合透镜（3）和光纤陶瓷插头（6）三者依次排列，在光纤陶瓷插头（6）的出光端接功率计；利用三维平台固定架调整非球面耦合透镜（3）与光纤陶瓷插头（6）之间的耦合对焦角度，同时观察功率计，当功率计呈现出最大值时的非球面耦合透镜（3）与光纤陶瓷插头（6）之间的角度为耦合角度，完成非球面耦合透镜（3）与光纤陶瓷插头（6）的对心调试，使用光阑（4）将非球面耦合透镜（3）与光纤陶瓷插头（6）进行固定安装； 14）光纤陶瓷插头（6）与光纤交接口的检验，将光纤接在光纤陶瓷插头（6）上，在光纤的出光端接功率计，使用光纤测试方法测试光纤陶瓷插头（6）与光纤交接口是否有误差，若检测有误差，说明此光纤陶瓷插头的接口点有损坏；若无误差，则使用光纤套（5）对光纤陶瓷插头与光纤进行固定安装。
申请日期	2016-07-22
专利号	CN106019497A
专利状态	授权
申请号	CN201610586102.5
公开（公告）号	CN106019497A
IPC 分类号	G02B6/42 \| H01S5/02
专利代理人	张祥骞 \| 奚华保
代理机构	合肥天明专利事务所
文献类型	专利
条目标识符	http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/57862
专题	半导体激光器专利数据库
作者单位	合肥芯碁微电子装备有限公司
推荐引用方式 GB/T 7714	夏焱. 一种LD激光器组件的装配及检验方法. CN106019497A[P]. 2016-10-12.

条目包含的文件
文件名称/大小	文献类型	版本类型	开放类型	使用许可
CN106019497A.PDF（144KB）	专利		开放获取	CC BY-NC-SA	请求全文