一种相对位姿视觉测量敏感器用同轴均匀照明系统

OPT OpenIR > 半导体激光器专利数据库

	一种相对位姿视觉测量敏感器用同轴均匀照明系统
其他题名	一种相对位姿视觉测量敏感器用同轴均匀照明系统
	龚德铸; 刘伟奇; 白山; 康玉思; 钟俊; 付瀚毅; 刘启海; 华宝成; 卢纯青; 赵春晖; 王世新; 郑岩; 袁琦; 高文文; 邹月; 张成龙; 刘阳; 安思颖
	2018-08-24
专利权人	北京控制工程研究所
公开日期	2018-08-24
授权国家	中国
专利类型	发明申请
摘要	一种相对位姿视觉测量敏感器用同轴均匀照明系统，首先，选用适当光功率和发散角的多模半导体激光器，作为输入光源，并将该光源耦合输入光学匀化系统；接着，在匀化系统中，实现激光光路折转、匀化、整形、扩束，并将匀化后的光束会聚到自聚焦透镜一端，从另一端导出均匀出射；最后通过小型化的匀化系统与整机的同轴装配，实现对合作目标的同轴均匀照明。本发明，组件小型化、整机可装配，实现了与相机镜头同轴安装、转换效率高、大发散角出射、光源均匀性好且空间分布稳定的照明光源，是相对位姿视觉测量敏感器的关键组件，为其高精度位姿测量，奠定了优质的成像基础。
其他摘要	一种相对位姿视觉测量敏感器用同轴均匀照明系统，首先，选用适当光功率和发散角的多模半导体激光器，作为输入光源，并将该光源耦合输入光学匀化系统；接着，在匀化系统中，实现激光光路折转、匀化、整形、扩束，并将匀化后的光束会聚到自聚焦透镜一端，从另一端导出均匀出射；最后通过小型化的匀化系统与整机的同轴装配，实现对合作目标的同轴均匀照明。本发明，组件小型化、整机可装配，实现了与相机镜头同轴安装、转换效率高、大发散角出射、光源均匀性好且空间分布稳定的照明光源，是相对位姿视觉测量敏感器的关键组件，为其高精度位姿测量，奠定了优质的成像基础。
主权项	一种相对位姿视觉测量敏感器用同轴均匀照明系统，其特征在于，包括：激光光源耦合输入模块、光学匀化整形模块、同轴输出模块；激光光源耦合输入模块：对外部输入的多束激光束进行耦合、准直化处理后，发送耦合准直激光束给光学匀化整形模块；光学匀化整形模块：接收激光光源耦合输入模块发送的耦合准直激光束，将耦合准直激光束散斑匀化和整形扩束处理，将整形后的激光束发送给同轴输出模块；同轴输出模块：接收光学匀化整形模块输入的整形后的激光束，向外部提供点光源形式的圆锥体照明光源。
申请日期	2018-02-28
专利号	CN108445640A
专利状态	申请中
申请号	CN201810165803.0
公开（公告）号	CN108445640A
IPC 分类号	G02B27/09 \| G02B27/48 \| G01C21/02
专利代理人	张晓飞
代理机构	中国航天科技专利中心
文献类型	专利
条目标识符	http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/56943
专题	半导体激光器专利数据库
作者单位	北京控制工程研究所
推荐引用方式 GB/T 7714	龚德铸,刘伟奇,白山,等. 一种相对位姿视觉测量敏感器用同轴均匀照明系统. CN108445640A[P]. 2018-08-24.

条目包含的文件
文件名称/大小	文献类型	版本类型	开放类型	使用许可
CN108445640A.PDF（491KB）	专利		开放获取	CC BY-NC-SA	请求全文