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一种半导体激光bar条及其制备方法
其他题名一种半导体激光bar条及其制备方法
关永莉; 米洪龙; 梁健; 李小兵; 王琳; 董海亮
2017-12-15
专利权人山西飞虹微纳米光电科技有限公司
公开日期2017-12-15
授权国家中国
专利类型发明申请
摘要本发明涉及一种半导体激光bar条及其制备方法,方法包括:制作GaAs外延片;在P‑GaAs欧姆接触层上刻蚀出脊型电流注入区和非注入区,并露出部分所述P‑GaAs限制层;制作出光隔离区;形成将所述P‑GaAs欧姆接触层以及露出的部分所述P‑GaAs限制层均覆盖住的电流限制层,并对所述电流限制层进行刻蚀,以露出所述脊型电流注入区;在所述电流限制层和所述脊型电流注入区上方形成P面金属电极层,并在所述P面金属电极层上制作出电隔离区;在所述GaAs衬底远离所述N‑GaAs限制层的一面形成N面金属电极层。本方案,可以提高半导体激光bar条的稳定性和寿命。
其他摘要本发明涉及一种半导体激光bar条及其制备方法,方法包括:制作GaAs外延片;在P‑GaAs欧姆接触层上刻蚀出脊型电流注入区和非注入区,并露出部分所述P‑GaAs限制层;制作出光隔离区;形成将所述P‑GaAs欧姆接触层以及露出的部分所述P‑GaAs限制层均覆盖住的电流限制层,并对所述电流限制层进行刻蚀,以露出所述脊型电流注入区;在所述电流限制层和所述脊型电流注入区上方形成P面金属电极层,并在所述P面金属电极层上制作出电隔离区;在所述GaAs衬底远离所述N‑GaAs限制层的一面形成N面金属电极层。本方案,可以提高半导体激光bar条的稳定性和寿命。
主权项一种半导体激光bar条,其特征在于,包括:GaAs外延片,其中,所述GaAs外延片从上往下依次为:P-GaAs欧姆接触层、P-GaAs限制层、P-GaAs波导层、量子阱、N-GaAs波导层、N-GaAs限制层和GaAs衬底; 所述P-GaAs欧姆接触层上刻蚀有脊型电流注入区和非注入区,且部分所述P-GaAs限制层未被所述P-GaAs欧姆接触层覆盖住; 所述GaAs外延片上刻蚀有光隔离区,所述光隔离区为从所述P-GaAs限制层未被所述P-GaAs欧姆接触层覆盖住的部分开始刻蚀,直到将所述P-GaAs限制层、P-GaAs波导层、量子阱、N-GaAs波导层刻穿所对应的被刻蚀掉的区域; 在所述P-GaAs欧姆接触层以及未被所述P-GaAs欧姆接触层覆盖住的部分所述P-GaAs限制层上方形成有电流限制层,其中,所述电流限制层被刻蚀掉一部分以露出所述脊型电流注入区; 所述电流限制层和所述脊型电流注入区上方形成有P面金属电极层,所述P面金属电极层上设置有电隔离区; 所述GaAs衬底远离所述N-GaAs限制层的一面形成有N面金属电极层。
申请日期2017-09-21
专利号CN107482471A
专利状态申请中
申请号CN201710857923
公开(公告)号CN107482471A
IPC 分类号H01S5/024 | H01S5/022
专利代理人-
代理机构-
文献类型专利
条目标识符http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/56549
专题半导体激光器专利数据库
作者单位山西飞虹微纳米光电科技有限公司
推荐引用方式
GB/T 7714
关永莉,米洪龙,梁健,等. 一种半导体激光bar条及其制备方法. CN107482471A[P]. 2017-12-15.
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