一种激光二极管测试设备

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	一种激光二极管测试设备
其他题名	一种激光二极管测试设备
	王胜利; 杨波
	2019-07-26
专利权人	深圳市矽电半导体设备有限公司
公开日期	2019-07-26
授权国家	中国
专利类型	发明申请
摘要	本发明提出一种激光二极管测试设备。所述激光二极管测试设备包括，机架；上料部，安装于机架；所述上料部用于放置待测激光二极管芯粒；传料部，安装于机架；所述传料部用于将激光二极管芯粒传输到预定的位置；第一测试部，安装于机架；所述传料部能够将激光二极管芯粒从上料部传输到所述第一测试部，所述第一测试部对激光二极管芯粒进行测试；第二测试部，安装于机架；所述传料部能够将激光二极管芯粒从第一测试部传输到第二测试部，所述第二测试部对激光二极管芯粒进行测试；收料部，安装于机架；所述传料部能够将第二测试部上的激光二极管芯粒传输到收料部。
其他摘要	本发明提出一种激光二极管测试设备。所述激光二极管测试设备包括，机架；上料部，安装于机架；所述上料部用于放置待测激光二极管芯粒；传料部，安装于机架；所述传料部用于将激光二极管芯粒传输到预定的位置；第一测试部，安装于机架；所述传料部能够将激光二极管芯粒从上料部传输到所述第一测试部，所述第一测试部对激光二极管芯粒进行测试；第二测试部，安装于机架；所述传料部能够将激光二极管芯粒从第一测试部传输到第二测试部，所述第二测试部对激光二极管芯粒进行测试；收料部，安装于机架；所述传料部能够将第二测试部上的激光二极管芯粒传输到收料部。
主权项	一种激光二极管测试设备，其特征在于：所述激光二极管测试设备（100）包括，机架（20）；上料部（30），安装于机架（20）；所述上料部（30）用于放置待测激光二极管芯粒；传料部（40），安装于机架（20）；所述传料部（40）用于将激光二极管芯粒传输到预定的位置；第一测试部（50），安装于机架（20）；所述传料部（40）能够将激光二极管芯粒从上料部（30）传输到所述第一测试部（50），所述第一测试部（50）对激光二极管芯粒进行测试；第二测试部（60），安装于机架（20）；所述传料部（40）能够将激光二极管芯粒从第一测试部（50）传输到第二测试部（60），所述第二测试部（60）对激光二极管芯粒进行测试；收料部（70），安装于机架（20）；所述传料部（40）能够将第二测试部（60）上的激光二极管芯粒传输到收料部（70）。
申请日期	2019-05-07
专利号	CN110057553A
专利状态	申请中
申请号	CN201910375127.4
公开（公告）号	CN110057553A
IPC 分类号	G01M11/02
专利代理人	-
代理机构	-
文献类型	专利
条目标识符	http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/55402
专题	半导体激光器专利数据库
作者单位	深圳市矽电半导体设备有限公司
推荐引用方式 GB/T 7714	王胜利,杨波. 一种激光二极管测试设备. CN110057553A[P]. 2019-07-26.

条目包含的文件
文件名称/大小	文献类型	版本类型	开放类型	使用许可
CN110057553A.PDF（267KB）	专利		开放获取	CC BY-NC-SA	请求全文