半導体光増幅器の測定装置及び測定方法

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	半導体光増幅器の測定装置及び測定方法
其他题名	半導体光増幅器の測定装置及び測定方法
	伊藤敏夫; 曲克明; 佐藤里江子; 鈴木安弘
	2003-01-10
专利权人	NIPPON TELEGR & TELEPH CORP
公开日期	2003-01-10
授权国家	日本
专利类型	发明申请
摘要	【課題】半導体光増幅器の素子光増幅度や入力側結合効率や出力側結合効率を正確に求める。【解決手段】単一波長光源601からの単一波長光を半導体光増幅器602に入力したときの出力光強度をパワーメータ607により測定して、ファイバ間増幅度βを求め、また、広波長帯域光源602からの広波長帯域光を半導体光増幅器602に入力したときの出力光強度をパワーメータ607により測定して、ファイバ間増幅度γを得る。また、半導体光増幅器のゲインリップルVを求めておく。そして、(1)式,(2)式を用いて、素子光増幅度gを求める。 V={(1+Rg)2 /(1-Rg)2 } ···(1) γ/β=(1-R)2 /{1-(Rg)2 } ···(2)
其他摘要	要解决的问题：准确地找出半导体光放大器的元件光学放大系数或其输入侧耦合效率或输出侧耦合效率。解决方案：用功率计607测量从单个波长光源601发射的单个波长光输入到半导体光放大器602时的输出光的强度，以获得光纤之间的放大因子β，使用功率计607测量当从大波长和光源602发射的大波长带光输入到半导体光放大器602时的输出光的强度，以获得光纤之间的放大因子β。此外，获得半导体光放大器的增益波动V.然后，下面的公式（1）和（2），V = [（1 + Rg）2 /（1-Rg）2]和＆gamma;β= [（1-R）2 / 1-Rg）2]用于找出元件光放大因子g。
主权项	-
申请日期	2001-06-20
专利号	JP2003008125A
专利状态	失效
申请号	JP2001185847
公开（公告）号	JP2003008125A
IPC 分类号	H01S5/50 \| H01S5/00
专利代理人	光石俊郎 (外2名)
代理机构	-
文献类型	专利
条目标识符	http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/51309
专题	半导体激光器专利数据库
作者单位	NIPPON TELEGR & TELEPH CORP
推荐引用方式 GB/T 7714	伊藤敏夫,曲克明,佐藤里江子,等. 半導体光増幅器の測定装置及び測定方法. JP2003008125A[P]. 2003-01-10.

条目包含的文件
文件名称/大小	文献类型	版本类型	开放类型	使用许可
JP2003008125A.PDF（44KB）	专利		开放获取	CC BY-NC-SA	请求全文