光电探测器寿命评估试验系统

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	光电探测器寿命评估试验系统
其他题名	光电探测器寿命评估试验系统
	何伟; 周小燕; 向秋澄; 黄海华; 李龙; 梁晨宇
	2016-09-07
专利权人	西南技术物理研究所
公开日期	2016-09-07
授权国家	中国
专利类型	授权发明
摘要	本发明提出的一种光电探测器寿命评估试验系统，旨在提供一种实时自动监测、采集数据，能同时对探测器施加三种任意组合应力进行寿命试验的评估试验系统。本发明通过下述技术方案予以实现：光控制试验系统通过光纤分路器将来自半导体激光器脉冲光信号分流到每个光电探测器受试样品上；温度控制试验系统通过温度试验箱对安装在测试工装各个区域的受试样品进行温度控制；电源控制系统通过电源控制模块根据测试工装各个区域的电压分别进行控制，试验监测控制系统通过控制面板对不同区域受试样品进行控制，实时监测受试样品参数，实现对样品参数测试数据的实时采集，监测受试样品的正常状态，FPGA模块将采集到的信息传递给计算机，进行寿命大小和置信度参数的评估。
其他摘要	本发明提出的一种光电探测器寿命评估试验系统，旨在提供一种实时自动监测、采集数据，能同时对探测器施加三种任意组合应力进行寿命试验的评估试验系统。本发明通过下述技术方案予以实现：光控制试验系统通过光纤分路器将来自半导体激光器脉冲光信号分流到每个光电探测器受试样品上；温度控制试验系统通过温度试验箱对安装在测试工装各个区域的受试样品进行温度控制；电源控制系统通过电源控制模块根据测试工装各个区域的电压分别进行控制，试验监测控制系统通过控制面板对不同区域受试样品进行控制，实时监测受试样品参数，实现对样品参数测试数据的实时采集，监测受试样品的正常状态，FPGA模块将采集到的信息传递给计算机，进行寿命大小和置信度参数的评估。
申请日期	2014-12-31
专利号	CN104634447B
专利状态	授权
申请号	CN201410851812.7
公开（公告）号	CN104634447B
IPC 分类号	G01J1/42 \| G01S7/497
专利代理人	郭纯武
代理机构	成飞(集团)公司专利中心
文献类型	专利
条目标识符	http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/50061
专题	半导体激光器专利数据库
作者单位	西南技术物理研究所
推荐引用方式 GB/T 7714	何伟,周小燕,向秋澄,等. 光电探测器寿命评估试验系统. CN104634447B[P]. 2016-09-07.

条目包含的文件
文件名称/大小	文献类型	版本类型	开放类型	使用许可
CN104634447B.PDF（190KB）	专利		开放获取	CC BY-NC-SA	请求全文