Systems and methods for in situ spectroscopic measurements

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	Systems and methods for in situ spectroscopic measurements
其他题名	Systems and methods for in situ spectroscopic measurements
	HAVARD, JOHN M.; WILLIAMS, PAUL C.
	2008-01-15
专利权人	FINESSE SOLUTIONS, INC.
公开日期	2008-01-15
授权国家	美国
专利类型	授权发明
摘要	A circularizated semiconductor laser diode (CSLD), such as for example a vertical cavity surface emitting laser (VCSEL) may be used for optical measurements. The CSLD may be used in a cell density probe to perform cell density determination and/or turbidity determination, such as in a biotech, fermentation, or other optical absorbance application. The cell density probe may comprise a probe tip section made from a polytetrafluoroethylene material, which provides sealability, ease of manufacture, durability, cleanability, optical semi-transparency at visible and near infrared wavelengths, and other advantages. The probe tip advantageously provides an optical gap that allows for in situ measurements of optical measurements including but not limited to absorbance, scattering, and fluorescence.
其他摘要	环形半导体激光二极管（CSLD），例如垂直腔表面发射激光器（VCSEL）可以用于光学测量。 CSLD可以用于细胞密度探针中以进行细胞密度测定和/或浊度测定，例如在生物技术，发酵或其他光学吸收应用中。细胞密度探针可以包括由聚四氟乙烯材料制成的探针尖端部分，其提供密封性，易于制造，耐久性，可清洁性，在可见光和近红外波长下的光学半透明性，以及其他优点。探针尖端有利地提供光学间隙，其允许光学测量的原位测量，包括但不限于吸光度，散射和荧光。
申请日期	2005-05-27
专利号	US7319522
专利状态	授权
申请号	US11/139720
公开（公告）号	US7319522
IPC 分类号	G01N21/00 \| G01N21/53 \| G01N21/64 \| G01N21/85
专利代理人	-
代理机构	BURKARD,ESQ., HERBERT
文献类型	专利
条目标识符	http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/49528
专题	半导体激光器专利数据库
作者单位	FINESSE SOLUTIONS, INC.
推荐引用方式 GB/T 7714	HAVARD, JOHN M.,WILLIAMS, PAUL C.. Systems and methods for in situ spectroscopic measurements. US7319522[P]. 2008-01-15.

条目包含的文件
文件名称/大小	文献类型	版本类型	开放类型	使用许可
US7319522.PDF（1152KB）	专利		开放获取	CC BY-NC-SA	请求全文