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高耦合效率电注入集成硅基激光器
其他题名高耦合效率电注入集成硅基激光器
刘磊; 肖希; 王磊; 邱英; 李淼峰; 陈代高; 杨奇; 余少华
2019-02-05
专利权人武汉邮电科学研究院
公开日期2019-02-05
授权国家中国
专利类型授权发明
摘要本发明公开了高耦合效率电注入集成硅基激光器,为叠层结构,包括:硅衬底、绝缘层、大模斑半导体有源芯片、顶层硅和低折射率层,硅衬底的上表面设有常规部和经过刻蚀的刻蚀部,绝缘层设置在硅衬底的常规部上;大模斑半导体有源芯片设置在硅衬底的刻蚀部上;顶层硅设置在绝缘层的上表面;低折射率层设置在顶层硅上表面的靠近所述大模斑半导体有源芯片的一侧。本发明,具有直接高效输出单模激光的优点,且结构紧凑,工艺简单,效率高,稳定性高,可商用化,在光互联、光通信、光谱测定以及光遥感等领域中具有广阔的应用前景。
其他摘要本发明公开了高耦合效率电注入集成硅基激光器,为叠层结构,包括:硅衬底、绝缘层、大模斑半导体有源芯片、顶层硅和低折射率层,硅衬底的上表面设有常规部和经过刻蚀的刻蚀部,绝缘层设置在硅衬底的常规部上;大模斑半导体有源芯片设置在硅衬底的刻蚀部上;顶层硅设置在绝缘层的上表面;低折射率层设置在顶层硅上表面的靠近所述大模斑半导体有源芯片的一侧。本发明,具有直接高效输出单模激光的优点,且结构紧凑,工艺简单,效率高,稳定性高,可商用化,在光互联、光通信、光谱测定以及光遥感等领域中具有广阔的应用前景。
申请日期2015-12-04
专利号CN105305229B
专利状态授权
申请号CN201510891312.0
公开(公告)号CN105305229B
IPC 分类号H01S5/22 | H01S5/34
专利代理人王卫东
代理机构北京捷诚信通专利事务所(普通合伙)
文献类型专利
条目标识符http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/49351
专题半导体激光器专利数据库
作者单位武汉邮电科学研究院
推荐引用方式
GB/T 7714
刘磊,肖希,王磊,等. 高耦合效率电注入集成硅基激光器. CN105305229B[P]. 2019-02-05.
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CN105305229B.PDF(663KB)专利 开放获取CC BY-NC-SA请求全文
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